[发明专利]具有多分支栅极接触结构的半导体器件在审
申请号: | 202010371495.4 | 申请日: | 2020-05-06 |
公开(公告)号: | CN111900204A | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | M.曾德尔;S.米斯林格;T.奥斯特曼;A.C.G.伍德 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘茜璐;申屠伟进 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 分支 栅极 接触 结构 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,包括:
第一组栅极沟槽,其形成在半导体衬底中并在第一方向上平行地纵向延伸,第一组中的每个栅极沟槽包括在场电极上方并与场电极电隔离的栅极电极;
第二组栅极沟槽,其形成在半导体衬底中并在与第一方向横切的第二方向上平行地纵向延伸,第二组中的每个栅极沟槽包括在场电极上方并与场电极电隔离的栅极电极;和
第一金属化层,其覆盖半导体衬底,并且包括源极接触结构和与源极接触结构电隔离的栅极接触结构,
其中,第一组栅极沟槽的栅极电极在同一端处电连接到栅极接触结构的第一分支,所述栅极接触结构的第一分支在与第一方向正交的方向上纵向延伸,
其中,第二组栅极沟槽的栅极电极在同一端处由栅极接触结构的第二分支电连接,所述栅极接触结构的第二分支在与第二方向正交的方向上纵向延伸,
其中,第一组栅极沟槽的场电极在相对端处电连接到源极接触结构,第一组的栅极电极从所述相对端电连接到栅极接触结构的第一分支,
其中,第二组栅极沟槽的场电极在相对端处电连接到源极接触结构,第二组的栅极电极从所述相对端电连接到栅极接触结构的第二分支。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,第一金属化层通过绝缘层与半导体衬底分开,其中第一组栅极沟槽的栅极电极通过延伸穿过绝缘层的第一接触开口电连接到栅极接触结构的第一分支,其中第二组栅极沟槽的栅极电极通过延伸穿过绝缘层的第二接触开口电连接到栅极接触结构的第二分支,其中第一组栅极沟槽的场电极通过延伸穿过绝缘层的第三接触开口电连接到源极接触结构,并且其中第二组栅极沟槽的场电极通过延伸穿过绝缘层的第四接触开口电连接到源极接触结构。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,其中,栅极接触结构的第一分支在第一组栅极沟槽和第二组栅极沟槽之间延伸,其中栅极接触结构的第一分支被附加绝缘层覆盖,并且其中与第一金属化层的源极接触结构接触的顶部金属层通过附加绝缘层与栅极接触结构的第一分支分开。
4.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,栅极接触结构不间断并且形成闭环,并且其中栅极接触结构的第一分支和第二分支联接在一起。
5.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述第一方向与所述第二方向正交。
6.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,第一金属化层包括连接到栅极接触结构的栅极垫,并且其中第一组栅极沟槽比第二组沟槽更长并且与栅极垫横向地重叠。
7.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括传感器,所述传感器在第一组沟槽与第二组沟槽之间形成在半导体衬底中。
8.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:
第三组栅极沟槽,其形成在半导体衬底中并且在第二方向上平行地纵向延伸,第三组的每个栅极沟槽包括在场电极上方并与场电极电隔离的栅极电极,
其中第一方向与第二方向正交,
其中第三组栅极沟槽与第二组栅极沟槽相邻,
其中第三组栅极沟槽短于第二组栅极沟槽,并且
其中第三组栅极沟槽和第二组栅极沟槽面对第一组栅极沟槽而终止。
9.一种半导体器件,包括:
第一象限栅极沟槽,其形成在半导体衬底中并且包括在彼此横切的方向上纵向延伸的四组条形栅极沟槽;
第二象限栅极沟槽,其形成在与第一象限栅极沟槽相邻的半导体衬底中并包括在彼此横切的方向上纵向延伸的四组条形栅极沟槽;以及
第一金属化层,其覆盖半导体衬底并且包括与第一和第二象限的栅极沟槽中的栅极电极电连接的栅极接触结构,所述栅极接触结构具有沿第一和第二象限栅极沟槽的每一侧延伸的分支,包括在第一和第二象限栅极沟槽之间的分支。
10.根据权利要求9所述的半导体器件,其中,第一和第二象限栅极沟槽之间的栅极接触结构的分支沿第一和第二象限栅极沟槽的整个长度不间断延伸。
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