[发明专利]基于差分涡流的高速轨道缺陷检测系统的参数设计方法有效

专利信息
申请号: 202010376331.0 申请日: 2020-05-07
公开(公告)号: CN111581814B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 许鹏;朱晨露;曾泓茗 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G01N27/90;B61K9/10
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 姜慧勤
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 涡流 高速 轨道 缺陷 检测 系统 参数 设计 方法
【权利要求书】:

1.基于差分涡流的高速轨道缺陷检测系统的参数设计方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1,对于高速轨道所有需要区分深度的缺陷,依据所要求的区分间距最小值Ds设计差分涡流检测线圈的直径D,即差分涡流检测线圈的直径D满足如下条件:

D≤Ds

步骤2,对于高速轨道所有需要区分深度的缺陷,依据所要求的最大缺陷深度dmax,在步骤1的基础上,设计差分涡流检测的激励频率f,以匹配检测速度v和最大缺陷深度dmax要求,即差分涡流检测的激励频率f满足如下条件:

其中,σ为待检测试件的电导率,μ为待检测试件的磁导率;

步骤3,根据步骤1和步骤2设计的直径D和激励频率f,设计差分涡流检测线圈,利用差分涡流检测线圈检测高速轨道所有需要区分深度的缺陷,得到缺陷的深度即高速轨道受损程度。

2.根据权利要求1所述基于差分涡流的高速轨道缺陷检测系统的参数设计方法,其特征在于,所述差分涡流检测线圈的直径D大于所有需要区分深度的缺陷的宽度。

3.根据权利要求1所述基于差分涡流的高速轨道缺陷检测系统的参数设计方法,其特征在于,所述差分涡流检测线圈的直径D等于间距最小值Ds

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