[发明专利]存储器的修复电路及方法

说明书

本发明涉及一种存储器的修复方法，是将多个一般位元分为多个第一群组，并将多个多余位元分为多个第二群组，当任一个第一群组中具有不佳位元时，选择一个第二群组来取代该第一群组。由于是以群组为修复单位，因此修复电路较为简单且面积较小，处理速度也更快。

技术领域

本发明涉及存储器领域，具体涉及一种存储器的修复电路及方法，特别是涉及一种以位元群组为单位的修复电路及方法。

背景技术

存储器会因为在制造过程中的各种非理想因素而产生不佳位元，因此在设计存储器时，除了原本的一般位元之外，还会利用内部的部分空间设置多余位元，当存储器经由测试发现一般位元中具有不佳位元时，可以使用多余位元取代这些不佳位元，以发挥修复效能，提升存储器的制造良率。传统的修复存储器方式是在设计时加入多余列(rowredundancy)或多余行(columnredundancy)的辅助电路，以在发现存储器中具有不佳位元时，可以取代包含该不佳存储器位元的行或列。

然而，传统的方法是替换一整行或一整列的位元，因此除了替换不佳位元之外，也会替换一行或一列中的良好位元，造成浪费。此外随着存储器尺寸缩小及存储器容量增大，存储器位元阵列密度随之提高，因此不佳存储器位元的数量也随之增多，设置多余行或多余列的空间需求也变多，导致若要配置足够的多余行或多余列的存储器位元进行替换，则所需额外的面积相当庞大。因此替换一整行或一整列的存储器位元的方式已不适用在小体积且大容量的存储器中。

发明内容

本发明的目的是提供一种以位元群组为单位的修复电路及方法。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

根据本发明，一种存储器的修复方法包括将多个一般位元分成多个第一群组及将该多个多余位元分成多个第二群组，最后根据第一群组所对应的修补资料决定是否选取其中一个第二群组来取代该第一群组。其中该修补资料可包含所要选取的第二群组的相关资料。该第一群组及第二群组皆具有t个位元，t为大于或等于2的整数。

根据本发明，一种存储器的修复电路包括一解码器及一选择电路，该解码器解码对应的第一群组的修补资料产生一选择信号，该选择电路根据该选择信号从多个第二群组中选取其中一个来取代该第一群组。其中该修补资料可包含所要选取的第二群组的相关资料。该第一群组及第二群组皆具有t个位元，t为大于或等于2的整数。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：本发明位元群组为单位的修复方法可以减少修复电路的面积，还能加快修复电路的处理速度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明以位元替换位元的方式的电路图；

图2为本发明图1中修复电路的实施例电路图；

图3为本发明图2中解码器的实施例电路图；

图4为本发明以位元群组为单位的修复方法的第一实施例电路图；

图5为本发明以位元群组为单位的修复方法的第二实施例电路图；

图6为本发明以位元群组为单位的修复方法的第三实施例电路图；

图7为本发明图6中修复电路的实施例电路图；

图8为本发明图7中解码器的实施例电路图。

符号说明：