[发明专利]一种获取设计良率的方法及装置

说明书

本发明公开了一种获取设计良率的方法及装置，通过放大标准偏差快速定位可能不符合性能指标的第一类输入参数空间，基于第一类输入参数空间所对应的抽样点和对应的性能测量值，获得第一类函数，基于设计对象的各个输入随机参数的原始分布的标准偏差，进行随机抽样得到第二类抽样点，对落在第一类输入参数空间内的第二类抽样点利用第一类函数得到性能估算值，并确定不符合性能指标的第三类抽样点，根据第三类抽样点的数量和第二类抽样点的数量，计算设计对象在对应的整体随机参数空间内符合性能指标的设计良率，实现提高获取符合性能指标的设计良率的效率。

技术领域

本发明涉及计算机仿真技术领域，更具体地说，涉及一种获取设计良率的方法及装置。

背景技术

对于高维度的输入随机参数空间且输入随机参数分布趋于扁平化的设计对象，例如，现代集成电路制造工艺的支持下进行芯片设计，由于设计对象追求极高的良率，如99.999999％，此时需要进行高sigma的蒙特卡洛分析(Monte Carlo Method)设计对象的良率，或称为设计良率。

传统的低sigma蒙特卡洛分析方法用于高sigma蒙特卡洛分析时面临速度/时间和精度方面的技术挑战从而导致设计良率的分析效率极低。

发明内容

有鉴于此，本发明公开了一种获取设计良率的方法及装置，实现提高获取符合性能指标的设计良率的效率，加速蒙特卡洛分析的速度的目的。

为了实现上述目的，本发明公开的技术方案如下:

第一方面，本发明公开了一种获取设计良率的方法，所述方法包括：

将设计对象的各个输入随机参数的标准偏差放大，基于放大后的标准偏差对各个输入随机参数进行随机抽样得到多个第一类抽样点；

获取各个所述第一类抽样点的性能测量值；

基于所述第一类抽样点的性能测量值和对应的性能指标值，确定可能不符合设计指标的第一类输入参数空间；

基于各个输入随机参数对应的所述第一类输入参数空间所对应的抽样点和对应的性能测量值，获得表征可能不符合设计指标的参数值与性能测量值的对应关系的第一类函数；

基于设计对象的各个输入随机参数的原始分布的标准偏差，进行随机抽样得到第二类抽样点，对落在所述第一类输入参数空间内的第二类抽样点利用所述第一类函数计算得到性能估算值，并根据所述性能估算值确定不符合设计指标的第三类抽样点；

根据所述第三类抽样点的数量和所述第二类抽样点的数量，计算所述设计对象在对应的整体随机参数空间内符合设计指标的设计良率。

可选地，所述基于所述第一类抽样点的性能测量值和对应的性能指标值，确定可能不符合设计指标的第一类输入参数空间，包括：

从所述第一类抽样点中选取性能测量值在预设范围内的抽样点集合，其中，所述预设范围根据输入随机参数对应的性能指标值得到；

对于所述设计对象中的任一输入随机参数，所选取的抽样点集合中全部抽样点对应的该输入随机参数的取值范围；

确定所述设计对象中的全部输入随机参数对应的取值范围为所述第一类输入参数空间。

可选地，所述基于各个输入随机参数对应的所述第一类输入参数空间所对应的抽样点和对应的性能测量值，获得表征可能不符合设计指标的参数值与性能测量值的对应关系的第一类函数，包括：

细分各个输入随机参数对应的所述第一类输入参数空间，得到多个细分后的第一类输入参数空间；

对所述多个细分后的第一类输入参数空间所对应的抽样点和对应的性能测量值进行函数提取，获得表征可能不符合设计指标的参数值与性能测量值的对应关系的第一类函数。