[发明专利]一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法

权利要求书

1.一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法，其特征在于，该方法涉及装置是由静电试验平台、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，在静电试验平台（1）上设有三维样品调整台（2），在三维样品调整台（2）上固定有样品测试板（3），在样品测试板（3）上放置大面阵彩色CMOS图像传感器样品（4），样品测试板（3）与直流电源（5）连接，静电试验平台（1）与计算机（6）连接，具体操作按下列步骤进行：

a、暗场条件下，选定积分时间，利用经过辐照后的图像传感器获取10帧暗场图像RAW格式并保存；

b、将步骤a中采集的RAW格式原始图像每个像素的16位2进制数据读出；

c、将步骤b读出的每个像素的16位2进制数据转换为10进制数据，10进制数据即为该像素的灰度值；

d、将四组为循环单元的横坐标2m，纵坐标2n；横坐标2m+1，纵坐标2n；横坐标2m，纵坐标2n+1；横坐标2m+1，纵坐标2n+1的像素单元的灰度值分别依次读入R、GB、GR或B通道的灰度值矩阵中，其中m=0,1,2…M，n=0,1,2…N ，M为大面阵彩色CMOS图像传感器像素阵列的宽度，N为大面阵彩色CMOS图像传感器像素阵列的高度；

e、分别计算R、GB、GR或B通道所有像素的平均灰度值；

f、改变积分时间，重复步骤a-步骤e，得到不同积分时间下R、GB、GR或B通道所有像素的平均灰度值；

g、画出暗场下R通道所有像素的平均灰度值随积分时间变化的曲线，该曲线拟合直线的斜率除以图像传感器的转换增益即为R通道的暗电流；

h、重复步骤g，分别得到GB、GR或B通道的暗电流。