[发明专利]一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法在审
申请号: | 202010388405.2 | 申请日: | 2020-05-09 |
公开(公告)号: | CN111743187A | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 黄长庚;贾文平;庄增坤;王清旺 | 申请(专利权)人: | 福建省三明金叶复烤有限公司 |
主分类号: | A24B3/10 | 分类号: | A24B3/10 |
代理公司: | 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 | 代理人: | 戴雨君 |
地址: | 365001 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 打后片烟 结构 均匀 追踪 预测 控制 方法 | ||
1.一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:其包括以下步骤:
步骤1,打后片烟结构均匀性追踪;
步骤1-1,获取生产班组打后叶片结构指标检测历史数据;
步骤1-2,构建打后SQH1值追踪模型:分别计算同一批次下各个生产班组每天的指标检测数据的平均值和标准偏差值;
步骤1-3,基于指标检测数据的变化分别计算每个生产班组和整个批次的打后片烟结构均匀性指标SQH1值;
步骤2,打后片烟结构均匀性预测;
步骤2-1,获取打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据;
步骤2-2,通过数据分析软件对数据进行显著性分析获取影响批次打后SQH1值的至少一个的主要影响指标,并主要影响指标的标准偏差总和作为打后SQH1值不大于目标控制X的关键影响因素V1;
步骤2-3,对各批次非关键影响指标进行数据处理获取非关键影响指标平均值的最小值及非关键影响指标标准偏差的最大值和最小值,进而通过SQH1值计算公式反推得到关键影响因素V1的量化范围;
步骤2-4,基于历史数据计算并确定所有批次打后SQH1值不大于目标控制X的合格率满足目标合格率Y要求时关键影响因素V1的最佳最高值和最低值;
步骤2-5,打后片烟结构均匀性模拟预测:将选取打后SQH1值关键影响因素范围最佳最高值和最低值引入打后SQH1值追踪模型中,根据生产班组至少2组指标检测数据,结合预设输入大片率、中片率、小片率指标检测数据,通过生产班组打后SQH1值和批次打后SQH1值自动计算和显示,模拟出SQH1值不大于目标控制X下的大片率、中片率、小片率指标检测值最大波动范围值,为操作人员进行后续生产加工指标调整控制提供指导以控制批次打后片烟结构均匀性。
2.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤1-1中通过质量管理系统获取各个批次打后叶片结构指标的历史数据,打后叶片结构指标检测历史数据包括大片率、中片率、小片率和叶中含梗率。
3.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤1-2中利用excel自带的公式分别计算同一批次下各个生产班组每天的指标检测数据的平均值和标准偏差值,并分别显示。
4.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤1-3中利用excel分别计算每个生产班组和整个批次的打后片烟结构均匀性指标(SQH1)值,并分别显示。
5.根据权利要求4所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤1-3中打后片烟结构均匀性指标SQH1的计算公式如下:
其中,至分别表示大片率、中片率、小片率和叶中含梗率的平均值;S1至S4分别表示大片率、中片率、小片率和叶中含梗率的标准偏差。
6.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤2-1中通过质量管理系统调取批次生产班组打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据,打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据包括大片率、中片率、小片率、叶中含梗率4个指标数据对应的平均值、标准偏差和批次打后SQH1值。
7.根据权利要求6所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法,其特征在于:步骤2-2中以大片率、中片率、小片率的标准偏差总和作为打后SQH1值不大于目标控制X的关键影响因素。
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