[发明专利]一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置和方法在审

专利信息
申请号: 202010390028.6 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111504803A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 赵丹阳;李红霞;王永杰;史伟良 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/06;G01N25/00
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 高分子材料 弯曲 角度 形状 记忆 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置,其特征是,该装置由中间弯曲块(1)、角度测量板(2)、上转动块(3)、手柄螺钉(4)、右手柄(5)、转轴(7)、紧固螺钉(8)、下固定块(9)和左手柄(10)组成;其中,中间弯曲块(1)上加工有螺纹孔(1a)、圆弧面(1b)和左螺纹孔(1c),上转动块(3)上加工有上凹槽(3a)、垂直凹槽(3b)、转轴连接孔(3c)和右螺纹孔(3d),下固定块(9)上加工有通孔(9a)和下凹槽(9b);

中间弯曲块(1)安装在下固定块(9)上面,并通过紧固螺钉(8)固定在一起;转轴(7)穿过下固定块(9)的转轴孔(9c)和上转动块(3)的转轴连接孔(3c),将下固定块(9)和上转动块(3)连接成一体;右手柄(5)通过手柄螺钉(4)固定在上转动块(3)上;左手柄(10)通过手柄螺钉(4)固定在下固定块(9)上;角度测量板(2)安装在下固定块(9)侧面上。

2.一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量方法,其特征是,该方法采用一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置进行测量,测试方法具体步骤如下:

第一步 在测量装置上安装形状记忆高分子材料实验样条

在室温下,将形状记忆高分子材料实验样条(6)的一端放置在下固定块(9)的下凹槽(9b)中,将中间弯曲块(1)放置于下固定块(9)上面,通过紧固螺钉(8)将中间弯曲块(1)和下固定块(9)固定在一起,实现对形状记忆高分子材料实验样条的固定,并使用角度测量板(2)记录实验样条(6)的初始角度

第二步 将本装置的角度测量板(2)作为底座放置于热源:水浴或油浴中,使得液面完全浸没下固定块(9)、中间弯曲块(1)和上转动块(3),露出手柄;设置热源温度为高于实验样条(6)的形状转变温度以上10℃~15℃,保持3~5min,使本装置和实验样条温度达到热源温度;该方法不受测试温度的限制,温度具有较高的可调性;

第三步 保持装置和实验样品浸没于热源环境中,通过液面外的右手柄(5)转动上转动块(3),当上转动块(3)与中间弯曲块(1)接触时停止转动,即形状记忆高分子材料可实现180°弯曲;使用角度测量板(2)记录此时热形变角度并使用夹子将左、右手柄(10、5)紧固,保持1~3min;实验样条完成180°变形后通过对两个手柄施加外力保持实验样条的弯曲状态;

第四步 保持左、右手柄(10、5)手柄紧固,将装置从热源中取出,放置于空气或冷水中,等实验样条冷却至室温时,取下夹子,然后使用角度测量板记录此时室温形变角度完成降温固定形状过程:

第五步 将实验样条再次放置于热源中,弯曲形变开始回复,待形变停止回复后,使用角度测量板记录回复形变角度

第六步 将得到的实验数据通过公式(1)、(2)进行处理,得到实验样条的形状记忆性能:形状固定率Rf和形状回复率Rr

完成实验样条的形状记忆性能测试。

3.如权利要求1所述的一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置,该装置中,中间弯曲块、下固定块、上转动块、左右手柄采用铝合金材料;角度测量板、转轴和螺钉采用不锈钢材料。

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