[发明专利]一种毫米波终端测试系统和方法

权利要求书

1.一种毫米波终端测试系统，其特征在于，包括承载台、毫米波波束成型器、毫米波天线阵列、信号处理器和控制器，所述承载台用于放置待测毫米波终端，所述毫米波天线阵列与所述承载台相对设置，所述毫米波波束成型器设置在所述毫米波天线阵列背离所述承载台的一侧，且所述毫米波波束成型器的输出口与所述毫米波天线阵列相连，所述毫米波波束成型器的输入口与所述信号处理器相连，所述毫米波波束成型器的控制口与所述控制器相连；其中，

所述控制器，用于在上行链路射频性能测试时，控制所述毫米波波束成型器从所述信号处理器接收初始上行测试信号并对其进行波束调整后生成上行测试信号，所述毫米波天线阵列根据所述上行测试信号生成上行测试波束；以及，

所述控制器，还用于在下行链路射频性能测试时，控制所述毫米波波束成型器从所述毫米波天线阵列接收初始下行测试信号并对其进行波束调整后生成下行测试信号，并传输至所述信号处理器；

所述毫米波波束成型器包括功分器和多个多路波束控制单元，所述多路波束控制单元包括上行波束控制模块、下行波束控制模块和开关模块；其中，

所述上行波束控制模块的输入端通过所述功分器与所述输入口相连，所述上行波束控制模块的输出端与所述输出口相连；

所述下行波束控制模块的输入端与所述输出口相连，所述下行波束控制模块的输出端通过所述功分器与所述输入口相连；

所述开关模块与所述控制器相连，以在所述控制器的控制下选择性地使得所述上行波束控制模块和所述下行波束控制模块工作；

所述上行波束控制模块包括第一放大器和第一增益/相位控制电路，所述开关模块包括第一开关和第二开关；其中，

所述第一增益/相位控制电路的输入端通过所述第一开关与所述功分器相连，所述第一增益/相位控制电路的输出端与所述第一放大器的输入端相连，所述第一放大器的输出端通过所述第二开关与所述输出口相连；

还包括移动机构，所述移动机构与所述承载台和所述毫米波波束成型器中的至少一者相连，以驱动所述毫米波波束成型器相对所述承载台移动；

所述移动机构包括直线电机、x轴导轨、y轴导轨和z轴导轨；其中，

所述直线电机的输出轴分别与所述x轴导轨、y轴导轨和z轴导轨相连，所述直线电机的控制端与所述控制器相连；

所述毫米波波束成型器可移动地设置在所述x轴导轨上，所述x轴导轨可移动地设置在所述y轴导轨和所述z轴导轨上；

所述直线电机的控制端接收控制器发出的移动控制信号，根据所述移动控制信号控制所述移动机构运动；

所述待测毫米波终端向所述毫米波天线阵列发出下行测试波束；

若所述待测毫米波终端发出的下行测试波束为按时序发射的多个连续波束，则所述直线电机可根据接收到的移动控制信号，控制所述承载台与毫米波波束成型器在特定的时序移动到特定的位置，使得所述承载台在对应时序位于所述待测毫米波终端发出的下行测试波束方向上。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述下行波束控制模块包括第二放大器和第二增益/相位控制电路；其中，

所述第二增益/相位控制电路的输入端与所述第二放大器的输出端相连，所述第二放大器的输入端通过所述第二开关与所述输出口相连，所述第二增益/相位控制电路的输出端通过所述第一开关与所述功分器相连。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括屏蔽箱，所述承载台、所述毫米波波束成型器以及所述毫米波天线阵列均设置在所述屏蔽箱内。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括上下变频器，所述上下变频器的第一端与所述信号处理器相连，所述上下变频器的第二端与所述毫米波波束成型器相连，以选择性地将初始上行测试信号转换为高频上行测试信号或将所述下行测试信号转换为低频下行测试信号。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述毫米波天线阵列为有源相控阵天线。

6.一种毫米波终端测试方法，其特征在于，采用权利要求1至5中任一项所述的测试系统，所述测试方法包括上行链路射频性能测试和下行链路射频性能测试；其中，

所述上行链路射频性能测试，具体包括：

所述信号处理器向所述毫米波天线阵列发送初始上行测试信号；

所述控制器控制所述毫米波波束成型器对所述初始上行测试信号进行波束调整后生成上行测试信号；

所述毫米波天线阵列根据所述上行测试信号生成并向所述待测毫米波终端发出上行测试波束，完成所述上行链路射频性能测试；以及，

所述下行链路射频性能测试，具体包括：

所述待测毫米波终端向所述毫米波天线阵列发出下行测试波束；

所述毫米波天线阵列根据接收到的所述下行测试波束生成初始下行测试信号；

所述控制器控制所述毫米波波束成型器对所述初始下行测试信号进行波束调整后生成下行测试信号；

所述信号处理器接收并处理所述下行测试信号，完成所述下行链路射频性能测试。