[发明专利]一种高速外部光学补偿方法及系统

说明书

本发明提供了一种高速外部光学补偿方法及系统，该高速外部光学补偿系统包括依次排布的OTP工站、相机采集工站和烧录工站，所述OTP工站进行OTP工艺，所述相机采集工站进行相机拍照采集工艺和算法工艺，所述烧录工站进行烧录工艺，通过OTP工站、相机采集工站和烧录工站能够对多块屏体进行同时处理。本发明的有益效果是：本发明采用多线程分布式作业，实现多块屏体按照不同流程布局，同时进行处理，效率高，而且Demura补偿的准确性高。

技术领域

本发明涉及AMOLED屏幕技术领域，尤其涉及一种高速外部光学补偿方法及系统。

背景技术

有机发光显示二极管(OLED)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性，与LCD相比，AMOLED具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点。亮度均匀性和残像仍然是它目前面临的两个主要难题，要解决这两个问题，除了工艺的改善，不得不用到外部外部光学补偿(即Demura)技术。

一般Demura补偿系统都是在一个工站做完四道工艺流程，依次为Demura流程设置OTP，图像采集，算法计算以及烧录。目前Demura流程设置OTP，相机采集和烧录，基本上根据优化提升速度的空间很有限。因为这三道工艺和硬件挂钩，硬件的执行速度很大程度上影响这工艺的速度。至于通过优化算法计算速度来降低整体mura补偿速度，提升空间也有限，如果为了节省数据采用压缩或抽样的方法，或多或少均会降低mura补偿的效果，不利于产品等级的提升。

发明内容

随着OLED屏体的批量生产，mura补偿成功率和Demura设备的产能成为评判设备优劣的重要指标。mura补偿速度的提升，决定了产量的增加，从而可大幅减少经济成本。高速外部外部光学补偿技术提出的目的就是为了提升mura补偿速度，降低生产线的生产效率，从而达到降低成本的作用。

针对背景技术的问题，为了解决Demura设备的效率，提高单位时间内的产能效率，本发明提供了一种高速外部光学补偿方法。

本发明提供了一种高速外部光学补偿方法，包括如下步骤：

步骤1：在屏体A投放完成后，设备便会发送信号，连接Mura补偿控制模块，Mura补偿控制模块收到设备信号后，在OTP工站点亮屏体，启动OTP的工艺流程；

步骤2：Mura补偿控制模块等待OTP工站、相机采集工站和烧录工站的工艺完成后，Mura补偿控制模块便发送信号给设备，设备运转；

步骤3：当设备停止后，设备会发送对应信号到Mura补偿控制模块，调度屏体A进入相机采集工站进行相机拍照采集工艺和算法工艺，相机采集工站每采集到一张图片便会将图片投入到算法线程中去，实现相机拍照采集和算法同时进行；同时，流入屏体B进入OTP工站进行OTP工艺；

步骤4：Mura补偿控制模块等待OTP工站、相机采集工站和烧录工站的工艺完成后，Mura补偿控制模块便发送信号给设备，设备运转；

步骤5：当设备停止后，设备会发送对应信号到mura补偿控制模块，OTP工站等待屏体C流入；相机采集工站开始进行屏体B的相机拍照采集工艺和算法工艺；屏体A做完相机拍照采集工艺和算法工艺后，便直接在烧录工站进行烧录工艺；

步骤6：Mura补偿控制模块等待OTP工站、相机采集工站和烧录工站的工艺完成后，Mura补偿控制模块便发送信号给设备，设备运转；

步骤7：当设备停止后，设备会发送对应信号到mura补偿控制模块，OTP工站等待屏体D流入；相机采集工站开始进行屏体C的相机拍照采集工艺和算法工艺；屏体B做完相机拍照采集工艺和算法工艺后，便直接在烧录工站进行烧录工艺；屏体A完成烧录工艺后，人工取出或者流入下游设备；

步骤8：若有屏体继续进入，则按照先后顺序依次进入OTP工站、相机采集工站和烧录工站并进行对应工艺的处理。