[发明专利]闪烁晶体和包括其的测井设备和医学成像设备在审
申请号: | 202010392322.0 | 申请日: | 2016-02-15 |
公开(公告)号: | CN111443374A | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 杨侃;P·R·蒙格;J·M·弗兰克 | 申请(专利权)人: | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202;G01T1/161;G01V5/04 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 闪烁 晶体 包括 测井 设备 医学 成像 | ||
1.一种闪烁晶体,其包含NaX:Tl,RE,其中:
X表示卤素;
RE为Sc,Y,Lu,Yb或其任意组合;
Tl具有1×10-5mol%至0.2mol%范围内的掺杂剂浓度;且
RE具有1×10-5mol%至9mol%范围内的掺杂剂浓度;并且
所述闪烁晶体具有包括如下的性能:
在不大于430nm的波长下的发射最大值。
2.根据权利要求1所述的闪烁晶体,其中RE具有至少1×10-4mol%的掺杂剂浓度。
3.根据权利要求1所述的闪烁晶体,其中X为I和Br的组合。
4.根据权利要求1所述的闪烁晶体,其中X为I。
5.一种方法,其包含:
提供根据权利要求1所述的闪烁晶体;
捕获在所述闪烁晶体内的辐射;
确定所述捕获的辐射的脉冲衰减时间和实际光输出;
确定对应于所述脉冲衰减时间的估算的光输出;并且
计算调节的光输出,所述调节的光输出为所述实际光输出与NaX:Tl的所述光输出除以所述估算的光输出相乘的乘积。
6.一种闪烁晶体,其包含NaX:Tl,Me2+和RE,其中:
X表示卤素;
Me2+表示二价金属元素;
RE表示稀土元素;
Tl具有1×10-5mol%至0.2mol%范围内的掺杂剂浓度;
Me2+具有的掺杂剂浓度大于T1的掺杂剂浓度;且
其中在所述闪烁晶体和NaI:Tl晶体在22℃下测量并且暴露于具有662keV能量的γ辐射时,所述闪烁晶体具有比所述NaI:Tl晶体的脉冲衰减时间小至少5%的脉冲衰减时间。
7.根据权利要求6所述的闪烁晶体,其中Me2+为Sr,且具有不大于0.9mol%的浓度。
8.根据权利要求6所述的闪烁晶体,所述闪烁晶体具有在662keV、22℃和1微秒积分时间下测量时,低于6.4%的能量分辨率。
9.一种闪烁晶体,其包含NaX:Tl,Me2+和RE,其中:
X表示卤素;
Me2+表示二价金属元素;
RE表示稀土元素;
Tl具有1×10-5mol%至0.2mol%范围内的掺杂剂浓度;
Me2+:Tl的比例为1.5至7.0的范围;并且
其中在所述闪烁晶体和NaI:Tl晶体在22℃下测量并且暴露于具有662keV能量的γ辐射时,所述闪烁晶体具有比所述NaI:Tl晶体的脉冲衰减时间小至少5%的脉冲衰减时间。
10.根据权利要求9所述的闪烁晶体,其中Me2+具有不大于5mol%的浓度。
11.根据权利要求9所述的闪烁晶体,其中在所述闪烁晶体和所述NaI:Tl晶体在662keV、22℃和1微秒积分时间下测量时,所述闪烁晶体具有低于6.4%的能量分辨率。
12.根据权利要求9所述的闪烁晶体,其中在32keV到81keV范围内的能量下,所述闪烁晶体具有不大于1.15的如归一化到在2615keV下的光输出的平均相对光输出。
13.根据权利要求9所述的闪烁晶体,其中在122keV到511keV范围内的能量下,所述闪烁晶体具有不大于1.07的如归一化到在2615keV下的光输出的平均相对光输出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司,未经圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010392322.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种智能GIS压力表无线直读装置
- 下一篇:一种打孔用限位装置