[发明专利]一种镀层平整度测量头在审
申请号: | 202010393073.7 | 申请日: | 2020-05-11 |
公开(公告)号: | CN111457879A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 朱卫民;李蔚森 | 申请(专利权)人: | 马鞍山恒瑞测量设备有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;G01B5/00 |
代理公司: | 北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11456 | 代理人: | 许玉顺 |
地址: | 243000 安徽省马鞍*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 镀层 平整 测量 | ||
1.一种镀层平整度测量头,包括底座1和测量装置2,其特征在于:所述测量装置2包括护套3,所述护套3内设有基体4,所述基体4上方设有弹簧座5,所述弹簧座5上套有复位弹簧6,所述弹簧座6上设有导向板7,所述导向板7上端设有位移传感器8,所述位移传感器8通过支架9固定在护套3内部,所述位移传感器8通过信号线连接着电源接头24,所述电源接头24用于与电源座20上的电源接口相接,所述基体4下方连接着测杆座10,所述护套3底端设有测杆11,所述测杆11穿过护套3底端的通孔12与护套3内的测杆座10相连接,所述测杆11上连接着测量头13,所述测量头13呈长方形设计,所述测量头13上安装有多个方形凸起的触头14。
2.根据权利要求1所述的一种镀层平整度测量头,其特征在于:所述底1座两端分别设有左支撑架15和右支撑架16,所述左支撑架15和右支撑架16上端连接着上支架17,所述底座1上设有下滑轨18,所示上支架17设有上滑轨19,所述上滑轨19与上支架17之间设有磁铁片,所述下滑轨18与底座1之间设有磁铁片,所述上滑轨19和下滑轨18上均设有电源座20,所述电源座20上设有多个电源接口,所述电源座20通过滑轮与上滑轨18和下滑轨19相连接,所述左支撑架15和右支撑架16上分别设有工作台一22和工作台二23,所述左支撑架15和右支撑架16的上下两端分别设有防撞击垫片24,所述防撞击垫片24与电源座20相对应。
3.根据权利要求1所述的一种镀层平整度测量头,其特征在于:所述工作台一22包括上固定架24和下固定架25,所述上固定架24旁设有调整件26与之相对应,所述上固定架24上设有长条形轨道27,所述长条形轨道27上设有可上下移动的活动螺杆28,所述活动螺杆28一端通过螺母与调整件26相固定,所述活动螺杆28另一端连接着驱动机构29,所述驱动机构29连接着驱动电机30,所述驱动电机30固定在上固定架24上,所述调整件26下端设有物料夹31,所述物料夹31一端连接着活动部32,所述活动部32上设有传感器33,所述下固定架25上的部件与上固定架24上的部件的连接方式及结构一致,所述工作台一22与所述工作台二23结构一致。
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