[发明专利]一种自动ICT测试装置

权利要求书

1.一种自动ICT测试装置，其特征在于，包括：升降机构（1）、机构框架（2）和探针治具（3）；所述升降机构（1）安装在机构框架（2）上，所述探针治具（3）安装在升降机构（1）上，所述升降机构（1）带动探针治具（3）升起和下降；

所述升降机构（1）包括：治具安装板（17），气缸（11）安装在治具安装板（17）上，气缸杆（20）下端与压板（19）连接；所述压板（19）下方两侧各设连接块（110），所述连接块（110）上有滑槽（1101）；

所述探针治具（3）包括：探针托盘（31），所述探针托盘（31）上表面设有测试用电路板（32），探针（36）焊接在测试用电路板（32）上；探针托盘（31）两侧各设凸台（311）用于插入所述滑槽（1101）；

直线轴承（14）安装在治具安装板（17）上，导向轴（12）穿过直线轴承（14）与压板（19）连接；通过导向轴（12）作导向，提高探针（36）的定位精度；

轴环（13）套设在导向轴（12）上，所述轴环（13）在导向轴（12）上的位置能够调节，用于调整升降机构（1）的行程；

定位销（112）依次穿过压板（19）上的销孔和探针托盘（31）上的定位销套（35），用于探针治具（3）安装到升降机构（1）后的精确二次定位；

探针固定板（37）安装在探针托盘（31）的下表面，辅助探针（36）的导向与固定；所述探针（36）穿过探针固定板（37）并突出探针托盘（31）的下表面；

两个定位柱（38）安装在探针托盘（31）下表面，用于配合电路板托盘（41）上的定位套（44），对电路板工装（4）进行精确二次定位；

所述升降机构（1）通过调平板（18）与机构框架（2）固定，所述调平板（18）与治具安装板（17）之间连接调平螺钉（15）；所述调平螺钉（15）穿过治具安装板（17）上的螺纹孔，下端顶到调平板（18）上；

螺母（16）螺纹连接在所述调平螺钉（15）上，用于调平后锁定调平螺钉（15）使升降机构（1）保持当前姿态，锁定后用螺钉将调平板（18）与治具安装板（17）固定在一起；

所述探针托盘（31）两侧的凸台（311）上设置V型槽；所述连接块（110）上装有球头柱塞（111），配合V型槽实现探针托盘（31）在升降机构（1）上的粗定位。

2.根据权利要求1所述的自动ICT测试装置，其特征在于，使用固定块（33）将测试用电路板（32）固定压在所述探针托盘（31）上；测试用电路板（32）上表面留有烧写器接头与供电电源接头，ICT测试仪器的线缆接头穿过治具安装板（17）与压板（19）同测试用电路板（32）接通，实现探针（36）向ICT测试仪器接收或发送数据。

3.根据权利要求1所述的自动ICT测试装置，其特征在于，所述探针托盘（31）侧边上安装有拉手（34）。