[发明专利]一种用于钎焊箔抗下垂值测量的检测方法及测量装置在审

专利信息
申请号: 202010395251.X 申请日: 2020-05-12
公开(公告)号: CN111443181A 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 刘前换;田国建;史明飞;吴保剑 申请(专利权)人: 江苏鼎胜新能源材料股份有限公司
主分类号: G01N33/20 分类号: G01N33/20;G01N33/207
代理公司: 镇江基德专利代理事务所(普通合伙) 32306 代理人: 李刚
地址: 212000*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 钎焊 下垂 测量 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于钎焊箔抗下垂值测量的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

①、将需检测的材料沿轧制方向取长度80-120mm,沿横向方向取长度20-25mm,制成待测试箔片;

②、将待测试箔片夹持在测量装置中,夹持后,待测试箔片的前端向外露出的长度为50mm左右;

③、将夹持有待测试箔片的测量装置放置于带氮气保护的马弗炉中,关闭炉门,通氮气进行吹扫,保证内部含氧量低于150PPM;

④、对待测试箔片依次进行快速加热、持续保温和冷却处理;

⑤、将待测试箔片连通测量装置一同取出,测量带测试箔片突出部分的末端高端,从而计算下垂值。

2.根据权利要求1所述的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的检测方法,其特征在于,步骤④中,快速加热阶段的具体参数为:从室温20摄氏度加热至600摄氏度,加热率为30K/min,时长为19min左右。

3.根据权利要求1所述的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的检测方法,其特征在于,步骤④中,持续保温阶段的具体参数为:在600摄氏度时,保持温度不变,时长为10min左右。

4.根据权利要求1所述的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的检测方法,其特征在于,步骤④中,冷却处理阶段的具体参数为:从600摄氏度降温至200摄氏度,冷却率8K/min,时长为50min左右。

5.一种如权利要求1-4中任一权利要求中所用到的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的测量装置,其特征在于,包括主架,所述主架的侧壁上连有前架与后架,所述前架与后架的上表面等高,前架与后架的上方设有压板,所述的压板包括前压板与后压板,所述的前压板与前架相配,所述的后压板与后架相配,前、后压板之间通过若干个联板相连,前架的上表面通过滑杆连有上板,前压板上设有与滑杆相配的滑孔,后压板上设有螺栓过孔,上板上连有压紧机构,所述的压紧机构包括若干个压头,所述压头的底部抵接在前压板的上表面上,压头的中部穿过上板并与连接板相连,所述连接板的上表面设有把手,压头的头部通过弹簧与上板的下表面相连。

6.根据权利要求5所述的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的测量装置,其特征在于,所述主架的高度为100-120mm。

7.根据权利要求5所述的一种用于钎焊箔抗下垂值测量的测量装置,其特征在于,所述联板的下表面高于前、后压板的下表面。

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