[发明专利]极耳焊点检测方法和装置有效
申请号: | 202010397054.1 | 申请日: | 2020-05-12 |
公开(公告)号: | CN111692990B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 陈程成;陈兰;曹树波;唐云涛;邹雅冰;赵振博 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/22;G01B11/14;G01B11/06;G01B11/02;G01B11/30;G01N21/88 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 林青中 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 极耳焊点 检测 方法 装置 | ||
1.一种极耳焊点检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
获得无焊接缺陷的极耳焊点的标准参数;
获得待测极耳焊点的测试参数;
计算所述测试参数与所述标准参数的差值比,并根据所述差值比或所述差值比的绝对值判断所述待测极耳焊点是否为异常焊点,所述差值比r=|k*(t-s)/s|+c;其中,t为所述测试参数,s为所述标准参数,k为不等于零的系数,c为常数,“||”表示求绝对值;
所述标准参数和所述测试参数中的所述参数共同选自以下参数中的至少一个:极耳焊点的高度/深度、对角线长度、极耳焊点构成的矩阵中单行两焊点之间的间距。
2.根据权利要求1所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,当所述差值比大于预设差值比时,判定极耳焊点为异常焊点。
3.根据权利要求1所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,还包括如下步骤:计算所述测试参数与所述标准参数的绝对差值,根据所述绝对差值与预设差值的大小判断所述待测极耳焊点是否为异常焊点。
4.根据权利要求1~3任一项所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,使用共聚焦显微镜检测所述标准参数和所述测试参数。
5.根据权利要求4所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,所述共聚焦显微镜为红外激光共聚焦显微镜。
6.根据权利要求4所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,还包括根据所述共聚焦显微镜对所述待测极耳焊点的成像图,判断焊点表面是否存在异常毛刺的步骤。
7.根据权利要求1~3任一项所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,获取所述标准参数的方法为求若干无焊接缺陷的焊点的对应参数的平均值。
8.根据权利要求1~3任一项所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,所述极耳焊点检测方法检测的极耳焊点的焊接方式为电阻焊接、激光焊接或超声波焊接。
9.根据权利要求1~3任一项所述的极耳焊点检测方法,其特征在于,所述极耳焊点检测方法检测的极耳焊点的材质为铝、镍、铜或其中至少一种金属的合金。
10.一种极耳焊点检测装置,其特征在于,包括:
焊点检测部件:所述焊点检测部件用于检测极耳焊点的形貌;
处理器部件:所述处理器部件能够接收或获得标准参数与预设差值;所述处理器部件用于对所述焊点检测部件所得形貌进行分析,得出待测极耳焊点的测试参数,计算所述测试参数与所述标准参数的差值比,并根据所述差值比判断所述待测极耳焊点是否为异常焊点,所述差值比r=|k*(t-s)/s|+c;其中,t为所述测试参数,s为所述标准参数,k为不等于零的系数,c为常数,“||”表示求绝对值;所述标准参数和所述测试参数中的所述参数共同选自以下参数中的至少一个:极耳焊点的高度/深度、对角线长度、极耳焊点构成的矩阵中单行两焊点之间的间距;
检测输出部件:所述检测输出部件用于输出所述处理器部件的判断结果。
11.根据权利要求10所述的极耳焊点检测装置,其特征在于,所述处理器部件还用于计算所述测试参数与所述标准参数的差值,并根据所述差值判断所述待测极耳焊点是否为异常焊点。
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