[发明专利]一种检测二极管电路的方法和装置

说明书

本申请公开了一种检测二极管电路的方法和装置，二极管电路是串联二极管电路和并联二极管电路中的一种，该方法包括：利用测试驱动源对施加至被测二极管电路的电压值和电流值中的至少一者进行分阶梯依次递增；以及测量被测二极管电路施加递增后的实际的输出电压值和输出电流值直至达到结束递增的条件。本申请的目的至少在于，能够利用大电压宽电流快速精准地测试串并联二极管电路，并且可以有效防止被测二极管电路中存在个别元件短路、连焊、断路、虚焊等重大缺陷时施加过大电流、电压对被测二极管电路造成的损坏。

技术领域

本申请涉及电子电路技术领域，具体地，涉及一种检测二极管电路的方法和装置。

背景技术

原有ICT(In Circuit Test，电路内测试)测试技术，采用3伏以下低电压、10毫安以下低电流进行测试，仅可测量单个二极管的基本特性。当遇到多个二极管并联电路时，由于物理链路上的不可断开，驱动电流会流过每个并联电路中二极管，在驱动电流有限的情况下，不可测量流过每个二极管指定大电流的特性；当遇到多个二极管串联链路时，多个二极管的导通电压叠加在一起，由于驱动电压有限，不可以测量所有二极管流过相同电流时的总的电压特性。

现有技术存在的问题：

受驱动源电流的限制，可测试的并联二极管的路数有一定的数量限制，且路数过多时测试误差会增大。受驱动电压的限制，可测试的串联二极管的个数也是有一定数量限制的。

发明内容

针对相关技术中的上述问题，本申请提出一种检测二极管电路的方法和装置，至少能够利用高精度的大电压宽电流测试串并联二极管电路并且在严格遵循二极管基本特性的基础上，实现对串并联二极管电路整体特性的快速精准测量，对被测品的一致性提供可靠保障。

本申请的技术方案是这样实现的：

提供了一种检测二极管电路的方法，二极管电路是串联二极管电路和并联二极管电路中的一种，包括：利用测试驱动源对施加至被测二极管电路的电压值和电流值中的至少一者进行分阶梯依次递增；以及测量被测二极管电路施加递增后的实际的输出电压值和输出电流值直至达到结束递增的条件。

根据本申请的实施例，还包括：达到结束递增的条件后，采集被测二极管电路的电压值和电流值，并把采集的被测二极管电路的电压值和电流值返回给上位机软件进行判定；进行多次不同电压值和/或电流值的被测二极管电路的测试。

根据本申请的实施例，在进行分阶梯依次递增之前还包括：通过施加第一电压和第一电流并测量被测二极管电路实际的输出电压值和电流值，判定被测二极管电路是否短路；如果被测二极管电不短路，则进行分阶梯依次递增；如果被测二极管电路短路则直接结束被测二极管电路的测试。

根据本申请的实施例，还包括：读取被测二极管电路的设定的电压值和设定的电流值；其中，结束递增的条件，包括：被测二极管电路施加递增后的实际的输出电压值低于设定的电压值并且被测二极管电路实际的输出电流值达到设定的电流值；递增后的电压值或电流值达到设定的电压值或设定的电流值。

根据本申请的实施例，分阶梯依次递增，包括：根据在进行分阶梯依次递增之前读取的设定的电流值，设定测试驱动源的程控电流源的实际输出电流值；根据在进行分阶梯依次递增之前读取的设定的电压值的大小，自动设定分压阶梯，包括：第一分压阶梯和第二分压阶梯；计算电压增量，电压增量包括：第一分压阶梯的第一电压增量和第二分压阶梯的第二电压增量。

根据本申请的实施例，分阶梯依次递增，还包括：施加电压增量于被测二极管电路；如果被测二极管电路实际的输出电压值和实际的输出电流值满足结束递增的条件，则结束增加电压；以及如果被测二极管电路实际的输出电压值和实际的输出电流值不满足结束递增的条件，则返回施加电压增量于被测二极管电路。