[发明专利]芯片的程序加密方法和存储介质

说明书

本申请涉及一种芯片的程序加密方法和存储介质，属于计算机技术领域，所述方法包括：在芯片上电之后，获取所述芯片的唯一编码ID号的加密值和校验值；检测所述芯片是否为烧录之后首次上电；若所述芯片是首次上电，则将所述加密值和所述校验值分布式存储；若所述芯片不是首次上电，则检测所述加密值和所述校验值与历史存储的加密值和校验值是否一致，根据检测结果确定是否正常运行所述芯片的程序。解决了现有技术中芯片容易被破解的问题，达到了可以提高芯片的破解难度的效果。

技术领域

本申请涉及一种芯片的程序加密方法和存储介质，属于计算机技术领域。

背景技术

STM32系列MCU（Microcontroller Unit，微控制单元）芯片在工业控制、通讯、物联网等领域得到了越来越广泛的应用。随着相关的嵌入式产品开发成本变高，破解却变得简单，程序保护问题也更多地引起开发者的重视。然而，目前的STM32程序保护方法单一，破解难度不高，FLASH程序被拷贝后得到反汇编程序，较容易将所设置的保护程序屏蔽掉，造成开发者的严重损失。

发明内容

本申请提供了一种芯片的程序加密方法和存储介质，可以解决现有方案中的问题。本申请提供如下技术方案：

第一方面，提供了一种芯片的程序加密方法，包括：

在芯片上电之后，获取所述芯片的唯一编码ID号的加密值和校验值；

检测所述芯片是否为烧录之后首次上电；

若所述芯片是首次上电，则将所述加密值和所述校验值分布式存储；

若所述芯片不是首次上电，则检测所述加密值和所述校验值与历史存储的加密值和校验值是否一致，根据检测结果确定是否正常运行所述芯片的程序。

可选的，所述根据检测结果确定所述芯片是否正常运行，包括：

若所述加密值和所述校验值与历史存储的加密值和校验值不一致，则将所述芯片的关键参数修改为异常参数。

可选的，所述根据检测结果确定所述芯片是否正常运行，包括：

若所述加密值和所述校验值与历史存储的加密值和校验值一致，则正常启动所述芯片。

可选的，所述方法还包括：

通过加密算法计算分布式存储地址；

将所述加密值和所述校验值在计算得到的所述分布式存储地址中分布式存储。

第二方面，提供了一种计算机存储介质，所述存储介质中存储有至少一条程序指令，所述至少一条程序指令被所述处理器加载并执行以上所述的芯片的程序加密方法。

通过在芯片上电之后，获取所述芯片的唯一编码ID号的加密值和校验值；检测所述芯片是否为烧录之后首次上电；若所述芯片是首次上电，则将所述加密值和所述校验值分布式存储；若所述芯片不是首次上电，则检测所述加密值和所述校验值与历史存储的加密值和校验值是否一致，根据检测结果确定是否正常运行所述芯片的程序；解决了现有技术中芯片容易被破解的问题，达到了可以提高芯片的破解难度的效果。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本申请的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1 是本发明所述的芯片的程序加密方法的方法流程图；

图2是本发明所述的芯片的程序加密方法的另一方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本申请的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本申请，但不用来限制本申请的范围。