[发明专利]一种复合绝缘子憎水性的评价方法

权利要求书

1.一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，包括：

将相同污染面积等级的待评价复合绝缘子进行分组，每个复合绝缘子分组中包括至少两个待评价复合绝缘子；

基于复合绝缘子分组结果生成用于指向所述待评价复合绝缘子的编号信息，以基于该所述编号信息同步采用相机拍摄所述污染面积相近的两个或两个以上的所述待评价复合绝缘子，获得所述待评价复合绝缘子的表面水滴夹角；

分别获取待评价复合绝缘子的至少一个评价参数；所述至少一个评价参数表征复合绝缘子的憎水性能；

基于所述至少一个评价参数、以及为每个评价参数预配置的权重系数获得所述待评价复合绝缘子的表征评价结果；

综合所述待评价复合绝缘子的表面水滴夹角和表征评价结果得到待评价复合绝缘子的憎水性评价结果。

2.根据根据权利要求1所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，待评价复合绝缘子污染面积按照如下方法进行划分：

按照污染面积大于等于复合绝缘子总表面积的75％的为污染面积等级A；

按照污染面积大于等于复合绝缘子总表面积的50％并小于75％的为污染面积等级B；

按照污染面积处于大于等于复合绝缘子总表面积的25％并小于50％的为污染面积等级C；

按照污染面积小于复合绝缘子总表面积的25％的为污染面积等级D。

3.根据权利要求1所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，基于复合绝缘子分组结果生成用于指向所述待评价复合绝缘子的编号信息，包括：

将每一个复合绝缘子分组中的所述至少两个待评价复合绝缘子进行两两分组获得至少一个复合绝缘子子组；每个复合绝缘子中包括两个待评价复合绝缘子；

针对复合绝缘子子组生成用于指向所述待评价复合绝缘子的编号信息，以基于该所述编号信息同步采用相机拍摄所述污染面积相近的两个或两个以上的所述待评价复合绝缘子，获得所述待评价复合绝缘子的表面水滴夹角。

4.根据权利要求1所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，所述方法还包括：

对表面水滴夹角和表征评价结果进行归一化的处理，

表面水滴夹角和表征评价结果归一化处理公式为：

获取预配置的表面水滴夹角和表征评价结果的相关系数值；

根据每一复合绝缘子分组中待评价复合绝缘子的表面水滴夹角和表征评价结果对所述相关系数值进行调整，得到调整后的相关系数值，以基于调整后的相关系数值对待评价复合绝缘子憎水性进行评价。

5.根据权利要求4所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据相关系数值、待评价复合绝缘子的表面水滴夹角和表征评价结果以及至少一个评价参数对所述至少一个评价参数对应的权重系数进行系数调整，得到调整后的评价参数对应的权重系数，以基于调整后的权重系数对待评价复合绝缘子憎水性进行表征评价。

6.根据权利要求5所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，所述表征评价包括：

对预处理后的复合绝缘子的表面基团Si-CH3相对峰面积进行测试。

7.根据权利要求6所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，所述对预处理后的复合绝缘子样片的表面基团Si-CH3相对峰面积进行测试，包括：

基于预设测试点，通过傅里叶红外光谱仪对预处理后的复合绝缘子样片各个预设测试点的表面基团Si-CH3相对峰面积进行测试，并取各个预设测试点表面基团Si-CH3相对峰面积的平均值，得到表面基团Si-CH3相对峰面积。

8.根据权利要求5所述一种复合绝缘子憎水性的评价方法，其特征在于，所述表征评价包括：

对预处理后的复合绝缘子样片的表面基团Si-O-Si相对峰面积进行测试。