[发明专利]一种颗粒分析分选装置及方法

权利要求书

1.一种颗粒分析分选装置，其特征在于，所述装置包括激光器、液流室、第四探测器、散射光探测单元和分选板；

所述激光器用于发射至少一种激光，所述激光照射到所述液流室中的颗粒上；

所述液流室用于限制所述颗粒的流动，使得所述颗粒依次受到所述激光的照射产生光信号，所述光信号包括荧光信号和散射光信号；

所述散射光探测单元用于分析所述散射光信号；所述散射光探测单元包括第一探测器，所述第一探测器用于检测所述光信号的第一部分，获取所述颗粒的大小；所述光信号的第一部分的方向与所述激光的方向平行；

所述第四探测器用于检测所述光信号的第三部分，获取所述颗粒的形貌图像；

所述分选板用于利用所述颗粒的特征将所述颗粒放入指定位置。

2.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述装置还包括照明模块，所述照明模块用于照明所述液流室。

3.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述第四探测器为高速探测时间延时积分相机，所述第四探测器的积分级数方向与所述颗粒的流动方向平行，所述第四探测器的积分级数方向与所述光信号的第三部分的方向垂直，所述第四探测器的工作时间与所述颗粒的流动速度相匹配。

4.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述散射光探测单元还包括第三镜头和第二探测器，所述装置还包括第三探测器；

所述第三镜头用于将所述光信号的第二部分分为散射光探测部分和荧光探测部分；

所述第二探测器用于检测所述散射光探测部分，获取所述颗粒以下特征中的一个或多个：所述颗粒的内部成分、所述颗粒的结构、所述颗粒的复杂度；所述散射光探测部分的方向与所述激光的方向垂直；

所述第三探测器用于检测所述荧光探测部分，获取所述颗粒的荧光特征信息。

5.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述光信号的第三部分的光轴与所述光信号的第一部分的光轴的夹角角度介于30度至130度之间。

6.如权利要求4所述装置，其特征在于，所述散射光探测单元和所述第四探测器用于在所述颗粒的流速≤1米/秒时，获取所述颗粒以下特征中的一个或多个：所述颗粒的内部成分，所述颗粒的结构，所述颗粒的复杂度，所述颗粒的形貌图像；

或者，所述散射光探测单元和所述第三探测器用于在所述颗粒的流速大于1米/秒时，获取所述颗粒以下特征中的一个或多个：所述颗粒的荧光特征信息，所述颗粒的大小。

7.一种颗粒分析分选方法，其特征在于，所述方法包括：

控制激光器发射至少一种激光，所述激光照射到液流室中的颗粒上；所述颗粒依次在所述激光的照射下产生光信号，所述光信号包括荧光信号和散射光信号；

利用第一探测器检测所述光信号的第一部分，获取所述颗粒的大小；

或者，利用分光片将所述光信号的第二部分分为散射光探测部分和荧光探测部分；利用第二探测器检测所述散射光探测部分，获取所述颗粒以下特征中的一个或多个：所述颗粒的内部成分、所述颗粒的结构、所述颗粒的复杂度；所述散射光探测部分的方向与所述激光的方向垂直；利用第三探测器检测所述荧光探测部分，获取所述颗粒的荧光特征信息；

或者，利用第四探测器检测所述光信号的第三部分，获取所述颗粒的形貌图像；

利用所述第一探测器、所述第二探测器、所述第三探测器和所述第四探测器中的一个或多个得到所述颗粒的特征，将所述颗粒放入指定位置。

8.如权利要求7所述方法，其特征在于，所述第四探测器为高速探测时间延时积分相机，所述第四探测器的积分级数方向与所述颗粒的流动方向平行，所述第四探测器的积分级数方向与所述光信号的第三部分的方向垂直，所述第四探测器的工作时间与所述颗粒的流动速度相匹配。

9.如权利要求7所述方法，其特征在于，所述光信号的第三部分的光轴与所述光信号的第一部分的光轴的夹角角度介于30度至130度之间。