[发明专利]一种绝对重力测量的两级隔振装置在审
申请号: | 202010406760.8 | 申请日: | 2020-05-14 |
公开(公告)号: | CN111443390A | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 胡远旺;张黎;邹彤;蒋冰莉;欧同庚 | 申请(专利权)人: | 中国地震局地震研究所;武汉地震科学仪器研究院有限公司 |
主分类号: | G01V7/02 | 分类号: | G01V7/02;G01V7/14;F16F15/073 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 姜展志 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝对 重力 测量 两级 装置 | ||
本发明涉及一种绝对重力测量的两级隔振装置,包括底座;弹性悬挂机构,安装在底座上端;固定悬挂板,竖直固定在底座上端;一级摆体,包括竖向的移动框架和悬挂框架,移动框架上下端通过与其活动连接的上连杆和下连杆与固定悬挂板的上下端对应活动连接,且共同构成一个平行四边形框架结构,悬挂框架与弹性悬挂机构弹性连接,下端安装有反馈磁缸,底座上设有反馈线圈;二级摆体框架,上下转动的安装于移动框架上,并通过弹性件与悬挂框架连接;位移检测系统,与反馈线圈连接;角锥棱镜,安装于二级摆体框架上。优点:能限制除摆动方向之外其它向自由度,消除摆动过程的转动量,解决了利用水平摆结构做隔振系统中存在的角度偏转问题。
技术领域
本发明涉及力学测量技术领域,特别涉及一种绝对重力测量的两级隔振装置。
背景技术
传统的绝对重力仪均采用自由落体加光学干涉的方式来测量重力加速度g,测试光路中包含有测试棱镜和参考棱镜,在测量过程中,测试棱镜作自由落体运动,不受地面振动影响;但参考棱镜会受到地面振动影响引起测试光程的变化,对测量带来干扰。因此,必须对参考棱镜采取相应的稳定措施,以抑制振动干扰。
全球范围内只有美国micro-g公司的FG系列绝对重力仪成功实现了商业化,该系列绝对重力仪被认为是世界上技术最成熟的绝对重力仪,但该系列重力仪的隔振系统结构复杂,体积较大,且对外技术封锁,国内很多研究机构研究了基于垂直摆结构的两级隔振装置,但垂直摆结构在运动过程中产生的旋转量会影响隔振效果。
为此,需要设计一款结构简单,操作方便,能够消除摆动过程中的转动量,并解决利用水平摆结构做隔振系统中存在的角度偏转问题的装置,从而为高精度绝对重力仪研制提供技术支撑。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种绝对重力测量的两级隔振装置,有效的克服了现有技术的缺陷。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:
一种绝对重力测量的两级隔振装置包括底座;弹性悬挂机构,上述弹性悬挂机构安装在上述底座上端;固定悬挂板,上述固定悬挂板竖直固定在上述底座上端;一级摆体,上述一级摆体包括竖向的移动框架和悬挂框架,上述移动框架设置于上述固定悬挂板与弹性悬挂机构之间,其上下端分别通过与其活动连接的上连杆和下连杆与上述固定悬挂板的上下端对应活动连接,且上述固定悬挂板、移动框架、上连杆和下连杆共同构成一个平行四边形框架结构,上述悬挂框架固定于上述移动框架靠近弹性悬挂机构的一侧,并与上述弹性悬挂机构弹性连接,上述悬挂框架下端安装有反馈磁缸,上述底座上设有与上述反馈磁缸相对应的反馈线圈;二级摆体框架,上述二级摆体框架可上下转动的安装于上述移动框架上,并通过弹性件与上述悬挂框架连接;位移检测系统,上述位移检测系统与上述反馈线圈连接,用于监测上述二级摆体框架与移动框架的上下相对位移差,并反馈给上述反馈线圈;角锥棱镜,上述角锥棱镜安装于上述二级摆体框架上。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步,上述弹性悬挂机构包括支撑框架、调节杆和弹簧,上述支撑框架固定于上述底座上端,上述调节杆竖直装配于上述支撑框架上端,且其高度可调,上述弹簧竖直设置,其上下端两端连接于上述调节杆的下端以及悬挂框架的上端之间。
进一步,上述上连杆和下连杆的两端分别通过挠性轴承与上述移动框架和固定悬挂板的上下端转动连接。
进一步,上述二级摆体框架活动连接于上述移动框架靠近上述固定悬挂板的一侧。
进一步,上述弹性件为片簧,上述片簧的两端分别与上述悬挂框架和二级摆体框架的上端连接。
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