[发明专利]一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法及系统

说明书

本发明提供了一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法及系统，二者均应用于测试机，测试机内集成有待测硬盘；二者均包括：删除待测硬盘的默认命名空间；重新创建待测硬盘的命名空间，并对所创建的每个命名空间进行格式化处理；依据目标个数参数的初始值μ1，从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间进行待测硬盘的上下电稳定性测试；修改目标个数参数的值为第二值μ2，再次执行如上所述的从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间进行待测硬盘的上下电稳定性测试。本发明用于增加固态硬盘上下电稳定性测试结果的可靠性。

技术领域

本发明涉及硬盘测试领域，具体是一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法及系统。

背景技术

硬盘有机械硬盘(HDD)和固态硬盘(SSD)之分。机械硬盘即是传统普通硬盘。固态硬盘(SSD)作为新一代存储而被广泛应用。

在固态硬盘的研发测试过程中，硬盘上下电稳定性测试是固态硬盘测试中较为常见的一个测试项。基于命名空间的硬盘上下电稳定性测试，是现有技术中出现的一种硬盘上下电稳定性测试。然而现有基于命名空间的硬盘上下电稳定性测试，往往是基于硬盘单一命名空间进行测试，对应的用户使用场景相对局限，测试结果可靠性相对较低。

为此，本发明提供一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法及系统，用于解决上述技术问题。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法及系统，用于增加固态硬盘上下电稳定性测试结果的可靠性。

第一方面，本发明提供一种SSD硬盘上下电稳定性测试方法，应用于测试机，测试机内集成有待测硬盘；该方法包括步骤：

S1：删除待测硬盘的默认命名空间；

S2：重新创建待测硬盘的命名空间，并对所创建的每个命名空间进行格式化处理；其中，所创建的命名空间的总数为ω个，ω≥2；

S3：依据目标个数参数的初始值μ1，从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间进行待测硬盘的上下电稳定性测试；所述的目标个数参数，用于表征待测硬盘中将要进行上下电稳定性测试的命名空间的数量；其中，μ1∈N且1≤μ1＜ω或μ1＝ω；

S4：修改目标个数参数的值为第二值μ2，再次执行步骤S3中所述的从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间进行待测硬盘的上下电稳定性测试；其中，在μ1∈N且1≤μ1＜ω时μ2＝ω，在μ1＝ω时μ2∈N且1≤μ2＜ω。

进一步地，在步骤S3中，依据目标个数参数的值，从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间进行待测硬盘的上下电稳定性测试，具体包括步骤：

S31、依据目标个数参数的值，从所创建的命名空间中选取对应数量的命名空间，分别记为目标命名空间；

S32、对各目标命名空间同时进行FIO读写测试；

S33、在对各目标命名空间同时进行FIO读写测试的过程中，控制测试机重启；

S34、在测试机重启后，检测待测硬盘的状态：若检测到待测硬盘的状态是正常，则执行步骤S35，否则执行步骤S36；

S35、转而重复执行上述步骤S32-步骤S34直至达到预先设定的重复执行次数；

S36、测试结束，输出测试结果。

进一步地，在步骤S33中，采用Admin命令控制测试机重启。

进一步地，在步骤S2与步骤S3之间，还包括步骤S23：检查步骤S2中创建的各命名空间的数量及大小是否正确、并检查待测硬盘的smart信息是否有报错：若检查通过，则执行步骤S3。