[发明专利]用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法

权利要求书

1.一种用于对非接触姿态测量设备(20)进行标定的标定系统(10)，其中所述非接触姿态测量设备(20)包括光学准直装置(210)和与所述光学准直装置(210)连接的姿态测量装置(220)，并且所述光学准直装置(210)用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息，所述姿态测量装置(220)用于测量与所述光学准直装置(210)的姿态相关的姿态信息，其特征在于，所述标定系统(10)包括：

姿态调整设备(110)，用于调整所述非接触姿态测量设备(20)的姿态；

反射部件(120)，设置有朝向所述光学准直装置(210)的参考反射面(S1)；以及

计算设备(130)，与所述光学准直装置(210)以及所述姿态测量装置(220)连接，配置用于：

根据从所述光学准直装置(210)接收的第一测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息；

根据从所述姿态测量装置(220)接收的第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息；以及

根据所述第一姿态信息和所述第二姿态信息，对所述非接触姿态测量设备(20)进行标定，并且其中

根据所述第一姿态信息和所述第二姿态信息，对所述非接触姿态测量设备(20)进行标定的操作，包括：将所述第一姿态信息与所述第二姿态信息进行比对；以及根据所述比对的结果，判定所述非接触姿态测量设备(20)中的所述光学准直装置(210)与所述姿态测量装置(220)之间的坐标系是否一致。

2.根据权利要求1所述的标定系统(10)，其特征在于，所述光学准直装置(210)包括：光源(211)；图像采集单元(212)；设置于所述光源前的第一分划板(213)；设置于所述图像采集单元(212)前的第二分划板(214)；以及光学系统，其中

所述光学系统用于将由所述光源(211)发射并且穿过所述第一分划板(213)的光源光投射到所述参考反射面(S1)上，以及将从所述参考反射面(S1)反射回的所述光源光经由所述第二分划板(214)投射到所述图像采集单元(212)，并且

根据从所述光学准直装置(210)接收的第一测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息的操作，包括：

接收所述图像采集单元(212)采集的检测图像作为所述第一测量信息，其中所述检测图像包含所述第一分划板(213)的第一刻线的第一影像和所述第二分划板(214)的第二刻线的第二影像；

根据所述第一影像与所述第二影像的位置，确定所述光学准直装置(210)与所述参考反射面(S1)的方位角偏差以及俯仰角偏差；以及

根据所述方位角偏差、所述俯仰角偏差以及与所述参考反射面(S1)相关的姿态信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息。

3.根据权利要求1所述的标定系统(10)，其特征在于，根据从所述姿态测量装置(220)接收的第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息的操作，包括：利用捷联惯导算法，根据所述第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息。

4.根据权利要求1所述的标定系统(10)，其特征在于，所述姿态调整设备(110)包括：

第一姿态调整组件(111)，用于调整所述非接触姿态测量设备(20)的俯仰角；以及

第二姿态调整组件(112)，设置于所述第一姿态调整组件(111)上，用于调整所述非接触姿态测量设备(20)的方位角。

5.根据权利要求4所述的标定系统(10)，其特征在于，所述第一姿态调整组件(111)包括：支撑架(1111)、承载盒(1112)以及第一转动部件(1113)，其中所述承载盒(1112)通过所述第一转动部件(1113)与所述支撑架(1111)连接。

6.根据权利要求5所述的标定系统(10)，其特征在于，所述第二姿态调整组件(112)包括设置于所述支撑架(1111)底部的转动平台(1121)以及第二转动部件(1122)，其中所述转动平台(1121)通过所述第二转动部件(1122)与所述支撑架(1111)连接，并且所述第一转动部件(1113)与所述第二转动部件(1122)垂直。