[发明专利]基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法

权利要求书

1.基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法，其特征在于：通过光源对物体绕轴偏转前和绕轴偏转前后照射，并分别结合光源的平面坐标，得到物体偏转前参考考面（1）的方程A和物体绕轴偏转后参考平面（2）的方程B，通过方程A和方程B获得两个参考平面的夹角，夹角的角度为平面物品的实际偏转角度。

2.根据权利要求1所述的基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法，其特征在于：具体包括以下步骤：

步骤S1：平面物体绕轴偏转前，光源通过平面不共线的三点射出三束平行激光光束垂直照射物体表面，得到三个偏转前测量点，三个偏转前测量点形成一个偏转前参考平面（1）；

步骤S2：确定偏转前参考平面（1）的方程A；

步骤S3：在平面物体绕轴偏转前光源通过平面不共线的三点射出三束平行激光光束垂直照射物体表面，得到三个偏转后测量点，三个偏转后测量点形成一个偏转后参考平面（2）；

步骤S4：确定偏转后参考平面（2）的方程B；

步骤S5：通过方程A和方程B获得偏转前参考平面（1）和偏转后参考平面（2）的夹角，夹角的角度即为平面物体的实际偏转角度。

3.根据权利要求2所述的基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法，其特征在于：所述步骤S2具体是指：利用激光测距原理获取三个偏转前测量点到对应光源的距离，结合光源的平面坐标，得到三个测量点偏转前的空间坐标确定偏转前参考平面（1）的方程A。

4.根据权利要求3所述的基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法，其特征在于：所述步骤S4具体是指：利用激光测距原理获取三个偏转后测量点到对应光源的距离，结合光源的平面坐标，得到三个测量点偏转后的空间坐标确定偏转前参考平面（1）的方程B。

5.根据权利要求2所述的基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法，其特征在于：所述步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S11：平面物体绕轴偏转前，三束激光光束平行设置且垂直向平面物体射出，以三束激光光束射出方向为Z轴构建三维直角坐标系，得到三个激光测距点的坐标；

步骤S12：三束激光光束照射在平面物体上，形成三个偏转前测量点，偏转前测量点将构成一个偏转前参考平面（1）。