[发明专利]电子元件组装方法和结构、材料制作方法和元件在审
申请号: | 202010417316.6 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN111599695A | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 杨俊新 | 申请(专利权)人: | 杨俊新 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L23/433 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 063000 河北省唐山市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 组装 方法 结构 材料 制作方法 元件 | ||
1.一种电子元件组装方法,其特征是元件之间接触面至少部分形成气密性接触,通过使元件之间接触面产生的真空压力固定元件的方法。
2.一种电子元件组装结构,其特征是元件之间的结构至少部分设定为气密性接触。
3.一种材料制作方法,其特征是材料至少由两部分构成,且两部分至少局部配置为气密性接触,通过接触面产生的真空压力固定材料的方法。
4.一种材料,其特征是采用权利要求3所述方法制作的材料。
5.一种电子元件,其特征是采用权利要求4所述材料制作的元件。
6.根据权利要求1所述的电子元件组装方法,其特征是气密性接触通过研磨式方式做到、或气密性接触通过真空方式做到、或气密性接触通过液体排气方式做到,至少采用一种。
7.根据权利要求3所述的材料制作方法,其特征是气密性接触通过研磨式方式做到、或气密性接触通过真空方式做到、或气密性接触通过液体排气方式做到,至少采用一种。
8.根据权利要求2所述的电子元件组装结构,其特征是至少部分气密性接触面内至少有一点是非气密性接触。
9.根据权利要求2所述的电子元件组装结构,其特征是气密性接触面的至少一个侧面有密封结构。
10.根据权利要求2所述的电子元件组装结构,其特征是气密性接触面的至少一个面,至少有一个固定结构。
11.根据权利要求4所述的材料,其特征是气密性接触面的至少一个侧面有密封结构。
12.根据权利要求5所述的电子元件,其特征是气密性接触面的至少一个侧面有密封结构。
13.一种散热方法,其特征是元件之间硬质接触面间至少部分形成气密性接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造