[发明专利]一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法

说明书

本发明涉及一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法，包括如下步骤：S1：备样：点亮具有点缺陷区的显示面板；S2、测量：测量步骤S1点缺陷区偏离正常区偏振状态所需补正的光学相位差；S3、修复：以步骤S2光学相位差，将飞秒脉冲激光聚焦在显示面板的玻璃透光基板内，在点缺陷区对应的玻璃透光基板内扫描，局部改性加工得到双折射纳米光栅结构；S4、复测：设置满足修复效果的修复条件，检测双折射纳米光栅结构光学特性参数，判断是否满足修复条件，若否，进行二次修复。本发明采用上述方案，在显示面板的玻璃透光基板内加工双折射纳米光栅结构，无需显示面板内设置特定的层结构，能够适应不同种类的半导体显示面板的修复，兼容性好。

技术领域

本发明涉及半导体显示技术领域，尤其涉及一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法。

背景技术

液晶显示技术是现有最成熟的半导体平板显示技术之一。其主要利用液晶分子在电场作用下发生偏转时，能够在一定范围内对穿过液晶的光束产生可控的相位延迟，从而对光束偏振态进行操控，通过与上、下偏光片配合，进而达到使像素显示不同亮度等级和色彩组合的目的。

现有技术中，在显示面板的亮点缺陷修复中常见激光加工方案是采用对某膜层进行碳化或遮挡的办法(韩国株式会COWINDST专利公开号101779157A)，具体加工部位有：彩色滤光膜(CF)，黑框(BM)，或透明电极(ITO)层等，这些方法选择的加工位置距离盒内液晶和配向层很近，约数十微米，有对产品造成液晶泄露等更大破坏的风险；能否执行修复很多时候过分依赖于产品是否含有特殊膜层结构，比如足够宽的BM或者是足够厚的保护层(OC)；另外，现有修复技术对不同产品的普适、兼容性不强。

发明内容

本发明为了解决上述技术问题提供一种适应性强、修复效果好的无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法，以解决上述至少一项技术问题。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：

一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法，包括如下步骤：

S1：备样：点亮具有点缺陷区的显示面板；

S2、测量：测量步骤S1缺陷区偏离正常区偏振状态所需补正的光学相位差；

S3、修复：以步骤S2所述的光学相位差，将飞秒脉冲激光聚焦在显示面板的玻璃透光基板内，在缺陷区对应的玻璃透光基板内扫描，局部改性加工得到双折射纳米光栅结构；

S4、复测：设置满足修复效果的修复条件，检测S3所述双折射纳米光栅结构的光学特性参数，判断所述光学特性参数是否满足所述修复条件，若否，进行二次修复。

本发明的有益效果是：采用上述方案，在显示面板的玻璃透光基板内加工双折射纳米光栅结构，能够对显示面板的缺陷进行有效的修复，无需显示面板内设置特定的层结构，能够适应不同种类的半导体显示面板的修复，安全性高，兼容性好。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，步骤S3中，所述飞秒脉冲激光的宽度范围为10～500fs，波长为400～1100nm，重复频率为0.1～200kHz，单脉冲能量为0.01～50μJ。

采用上述进一步方案的有益效果是：采用上述特性的飞秒脉冲激光，能够更好的加工得到修复的双折射纳米光栅结构。

进一步，步骤S3中，所述扫描的扫描方向与所述飞秒脉冲激光的偏振方向夹角设置。

采用上述进一步方案的有益效果是：采用夹角设置能够根据修复需要得到双折射纳米光栅结构，完成修复。

进一步，所述扫描方向与所述飞秒脉冲激光的偏振方向平行或垂直。

采用上述进一步方案的有益效果是：采用平行或垂直的设置，能够根据缺陷区的透光偏振状态完成修复。