[发明专利]一种传感器检测信息的获取方法以及装置

说明书

本发明适用于传感器检测技术领域，提供了一种传感器检测信息的获取方法以及装置。一种传感器检测信息的获取方法，包括以下步骤：设定定时器的定时周期，所述定时周期包括周期内的充电时间以及放电时间；在每次所述定时周期内，根据所述充电时间控制电容充电，再根据所述放电时间控制所述电容放电到传感器的电阻，并启动计时器，在所述电容达到预设放电程度时，记录所述计时器的记录时间；以及根据所述记录时间获取所述传感器的电阻阻值，再根据所述电阻阻值获取传感器检测信息。本发明无需采用高成本的ADC模块，利用MCU自带定时器功能，即可实现传感器检测信息的获取，节约了成本，且信息获取方式简单高效。

技术领域

本发明属于传感器检测技术领域，尤其涉及一种传感器检测信息的获取方法以及装置。

背景技术

现有技术中，目前大多数传感器为模拟传感器，即传感器输出的信号非数字信号，而是模拟电压信号，因此通常需要使用ADC(Analog to Digital Converter)模块采集传感器输出的模拟信号。

为了保证数据处理结果的准确性，以及适应快速过程的控制和检测的需要，ADC模块必须有足够高的转换精度和足够快的转换速度。因此，转换精度和转换速度是衡量ADC模块性能优劣的主要标志。

然而，越高的转换精度和越快的转换速度，ADC模块成本也随之提高，如何降低成本来获取传感器检测信息，是本领域亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明提供一种传感器检测信息的获取方法以及装置，旨在解决降低成本来获取传感器检测信息的问题。

本发明是这样实现的，提供一种传感器检测信息的获取方法，包括以下步骤：

设定定时器的定时周期，所述定时周期包括周期内的充电时间以及放电时间；

在每次所述定时周期内，根据所述充电时间控制电容充电，再根据所述放电时间控制所述电容放电到传感器的电阻，并启动计时器，在所述电容达到预设放电程度时，记录所述计时器的记录时间；以及

根据所述记录时间获取所述传感器的电阻阻值，再根据所述电阻阻值获取传感器检测信息。

更进一步地，所述根据所述记录时间获取传感器的电阻阻值，再根据所述电阻阻值获取传感器检测信息的步骤，具体包括：

获取并存储映射表格，所述映射表格包括所述记录时间、所述电阻阻值以及所述传感器检测信息的对应关系；

查询所述映射表格，根据所述记录时间获取传感器的电阻阻值，再根据所述电阻阻值获取传感器检测信息。

更进一步地，所述在所述电容达到预设放电程度时，记录所述计时器的记录时间的步骤，具体包括：

判断是否接收到电平转换信号；

若是，则判断所述电容达到预设放电程度，记录所述计时器的记录时间。

更进一步地，所述设定定时器的定时周期的步骤，具体包括：

获取所述电容的极限充电时间以及极限放电时间，其中，在模拟设定的可调电阻的阻值最大时，所述极限充电时间为所述电容充满电的时间，所述极限放电时间为所述电容放满电的时间；

设定定时器的定时周期，所述充电时间与所述极限充电时间满足第一预设倍数，所述放电时间与所述极限放电时间满足第二预设倍数。

更进一步地，所述充电时间是所述极限充电时间的两倍，所述放电时间是所述极限放电时间的两倍。

本发明还提供一种传感器检测信息的获取装置，包括：

定时周期设定单元，用于设定定时器的定时周期，所述定时周期包括周期内的充电时间以及放电时间；