[发明专利]一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器

说明书

本发明公开了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，属于信号传输及测试技术领域，其通过对应第一接触部和第二接触部设置连接部、第一弹性部和第二弹性部，利用各部分之间的对应连接，使得当第一接触部的端部受力工作时，两个弹性部可分别对相应接触部施以探针纵向上的作用力，保证两接触部稳定抵接对应的测试装置。本发明的适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其结构简单，设置简便，利用各部件的对应设置，能在实现探针两接触部可靠连接的基础上，降低探针的电阻，为高速率信号的传输和大电流测试环境下的应用提供了可能，拓展了探针的应用范围，降低了探针的应用成本，具有较好的应用前景和推广价值。

技术领域

本发明属于信号传输及测试技术领域，具体涉及一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器。

背景技术

在液晶面板、集成电路等电子部件模块的制造工序中，往往需要进行导通检测和动作特性检查等过程，这通常需要使用探针将电子部件模块的主体基板与FPC接触电极对应连接，或者将基板的电极部与检测装置对应连接，进而完成相应的检测工作。

目前，常用的探针具有能够与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子分别接触的一对触头，以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子之间的接触压力，提高针对电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子的接触可靠性。该弹性部的外形多为S形、蛇形，由直线部和弯曲部交替连接组成；并且为了较好的发挥弹性部的弹簧特性，该弯曲部的数量至少为两个，因此弹性部的直线距离较长；由于测试过程中信号需要经过弹性部在两个触头之间传输，弹性部的长度较长将导致信号传输路径长，信号在传输过程中衰减严重，信号质量变差，因此无法满足高速信号传输的使用要求；此外，此类探针的导电电阻过大，会严重限制高速信号的传输速度。基于上述缺陷，目前常用的探针的最大过流能力小于2.5A，一般只能应用于信号传输速率不大于1.2Gbps的测试环境中。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种，本发明提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，可有效实现探针工作时两接触部与对应部件的抵紧，提升探针抵接连通的可靠性，并有效实现探针在高速信号传输、大电流作用环境下的应用。

为实现上述目的，本发明的一个方面，提供一种适用于大电流高速信号测试的探针，包括在探针纵向上间隔设置的第一接触部和第二接触部，以及还包括第一弹性部、第二弹性部、和连接部，各部件一体成型；

所述第一接触部和所述连接部在探针横向上间隔相对设置，两者分别为沿探针纵向延伸的板状结构；所述第二接触部为沿探针横向延伸的板状结构，其背离所述第一接触部的一侧设置有至少一个触点部；

所述第一弹性部沿探针横向延伸，其两端分别连接所述第一接触部和所述连接部，并可在所述第一接触部受纵向力时发生形变，以及将纵向力传递到所述连接部上；所述第二弹性部沿探针纵向弯曲延伸，其包括至少一个直线部和多个第一弯曲部；所述直线部沿探针横向设置，其两端以对应的第一弯曲部连接所述第二接触部的端部、相邻直线部的端部、或者所述连接部的端部。

作为本发明的进一步改进，还包括限位组件；

所述限位组件对应所述第一接触部设置，用于该第一接触部在探针纵向上运动时的限位与导向，以及对所述第一接触部在探针横向上偏移倾斜的限位。

作为本发明的进一步改进，所述探针导通路径的最小横截面积位于两弹性部、连接部或者两接触部，且该最小横截面积对应的宽度与探针宽度之间的比值介于1:150～1:10之间。

作为本发明的进一步改进，

所述探针的设置厚度为0.05mm～3mm，两弹性部的有效横截面积为0.005mm²～18mm²。