[发明专利]圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法在审
申请号: | 202010423907.4 | 申请日: | 2020-05-19 |
公开(公告)号: | CN111578889A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 王明艳;范友芳;倪勇;单琳琳 | 申请(专利权)人: | 盐城工业职业技术学院 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 石艳红 |
地址: | 224000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 圆形 方形 陶瓷 平行 检测 方法 | ||
1.一种圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤1,陶瓷基板供料:自动供料机构将待测的陶瓷基板输送至供料工位;
步骤2,吸附移栽,具体包括如下步骤:
步骤21,陶瓷基板吸附:滑块沿水平滑轨滑移至自动供料机构的供料工位;空心升降轴高度下降,位于空心升降轴底部的吸盘高度下降,并吸附在位于供料工位中的待测陶瓷基板的中部表面;此时,位于吸盘外周的压环的高度处于上升状态;
步骤22,陶瓷基板上料:空心升降轴高度上升,带动吸盘及吸附的待测陶瓷基板高度上升;滑块滑移至检测平台的正上方,空心升降轴高度下降,直至吸盘吸附的待测陶瓷基板接触到检测平台;吸盘解除与待测陶瓷基板间的吸附,完成上料;
步骤3,陶瓷基板中部压紧:压环高度下降,压紧在吸盘外周的陶瓷基板上表面;
步骤4,旋转检测:检测平台旋转,带动位于检测平台上方的陶瓷基板及压环同步旋转;与此同时,距离传感器实时检测自身与位于正下方陶瓷基板之间的距离值;通过判断距离传感器测试的距离值的变化量,得出对应陶瓷基板的平行度。
2.根据权利要求1所述的圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法,其特征在于:当陶瓷基板为圆形时,在步骤4中的旋转检测时,检测平台旋转一周,带动位于检测平台上方的陶瓷基板及压环同步旋转;与此同时,距离传感器实时检测自身与位于正下方陶瓷基板之间的距离值;通过判断距离传感器测试的距离值的变化量,得出对应陶瓷基板的平行度。
3.根据权利要求1所述的圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法,其特征在于:当陶瓷基板为方形或长方形时,在步骤4旋转检测前,通过旋转检测平台,使距离传感器的正下方对应陶瓷基板的一个直角角位;在步骤4中的旋转检测时,检测平台连续旋转四个90°,带动位于检测平台上方的陶瓷基板及压环同步旋转;与此同时,距离传感器实时检测自身与位于正下方陶瓷基板直角角位之间的距离值;通过判断距离传感器测试的四个距离值的变化量,得出对应陶瓷基板的平行度。
4.根据权利要求1所述的圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法,其特征在于:在步骤3的陶瓷基板中部压紧之前,还包括对中步骤,通过位于陶瓷基板外侧定位板的同步相向运动,使得陶瓷基板同轴位于检测平台的正上方,完成对中。
5.根据权利要求1所述的圆形或方形陶瓷基板平行度检测方法,其特征在于:还包括步骤5,不同径向位置的平行度测试:调整距离传感器在检测平台上的径向位置,重复步骤4,测试陶瓷基板在不同径向位置或宽度时的平行度。
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