[发明专利]一种基于Adaboost的软件缺陷预测方法有效
申请号: | 202010431568.4 | 申请日: | 2020-05-20 |
公开(公告)号: | CN111679971B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 吴玉美;常硕;刘斌 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06K9/62 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 曹鹏飞 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 adaboost 软件 缺陷 预测 方法 | ||
1.一种基于Adaboost的软件缺陷预测方法,其特征在于,包括如下具体步骤:
步骤1:采集软件缺陷数据组成原始训练数据集,对原始训练数据集进行分类划分,获得n组训练数据组;
步骤11:输入原始训练数据集S0;
步骤12:将所述训练数据集S0按标签类别划分为大类样本集SMaj和小类样本集SMin;
步骤13:分别计算所述大类样本集SMajk维特征的样本均值和样本方差以及大类样本后验概率,其中k=1,2,...,m,m为特征数,样本类别Y=0时,大类样本Xik取值为xik时的后验概率为
步骤14:分别计算所述小类样本集SMink维特征的样本均值和样本方差以及小类样本后验概率,其中k=1,2,...,m,m为特征数,所述样本类别Y=1时,所述大类样本Xik取值为xik时的所述后验概率为进入步骤15;否则输出重采样数据集Snew;
步骤15:遍历所述大类样本集SMaj中每个样本的m个特征,计算样本特征变量Dik=P(Xik=xik|Y=0)-P(Xik=xik|Y=1);
步骤16:对m个所述样本特征变量Dik求和得到样本信息量大小
步骤17:根据所述样本信息量大小γ对所述大类样本集SMaj中的所有所述大类样本进行排序并分组,获得n组样本子集S1,S2,S3,...Sn;
步骤2:遍历n组所述训练数据组进行训练,获得若干弱分类器,将若干所述弱分类器融合获得集成分类器;
步骤3:将软件运行数据输入所述集成分类器,输出软件缺陷预测结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于Adaboost的软件缺陷预测方法,其特征在于,所述步骤2的具体实现过程为:
步骤21:初始化迭代次数m=1,初始化样本惩罚系数ωm=1/n,初始训练数据组Am=SMaj∩SMin;
步骤22:输入训练数据组Am,m≤n,根据所述样本惩罚系数ωm训练所述训练数据组Am并获得弱分类器Gm;
步骤23:根据所述弱分类器Gm计算弱分类器误差率em和弱分类器权重系数am;
步骤24:根据所述弱分类器权重系数am对所述弱分类器Gm进行融合,获得当前集成分类器Fm;
步骤25:如果n组所述训练数据组遍历结束,则输出当前集成分类器Fm为集成分类器;否则更新所述训练数据组Am+1=Am-Sm,Sm为所述样本子集,令m=m+1,根据所述当前集成分类器更新所述样本惩罚系数ωm,并返回所述步骤22。
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