[发明专利]一种基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器在审

专利信息
申请号: 202010433046.8 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN111562405A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 中山科立特光电科技有限公司
主分类号: G01P15/03 分类号: G01P15/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528458 广东省中山市火炬开发区中心城区港义*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 贵金属 纳米 颗粒 透射 光谱 加速度 传感器
【权利要求书】:

1.一种基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于,包括:基底、弹性柱、质量块、贵金属纳米颗粒层、光源、光探测器,所述弹性柱的一端固定于所述基底上,所述弹性柱的材料为透明弹性材料,所述质量块固定于所述弹性柱的另一端,所述贵金属纳米颗粒层固定于所述弹性柱的侧面,所述贵金属纳米颗粒层由贵金属纳米颗粒构成,所述光源为连续谱光源,用于照射贵金属纳米颗粒层,所述光探测器用于获得所述贵金属纳米颗粒层的透射光谱;测量加速度时,所述质量块压缩所述弹性柱,改变所述贵金属纳米颗粒之间的距离,从而改变所述贵金属纳米颗粒层的透射光谱,根据透射光谱中共振峰的位置确定加速度。

2.如权利要求1所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:所述弹性柱的材料为PMMA。

3.如权利要求2所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:所述贵金属纳米颗粒的材料为金。

4.如权利要求1-3任一项所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:所述质量块为块状磁铁。

5.如权利要求4所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:还包括底部块,所述底部块为块状磁铁,所述底部块固定在所述基底上,所述弹性柱固定在所述底部块上,所述底部块和所述质量块的异号磁极相对。

6.如权利要求5所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:所述贵金属纳米颗粒含有内核,所述内核为镍材料。

7.如权利要求6所述的基于贵金属纳米颗粒透射光谱的加速度传感器,其特征在于:所述贵金属纳米颗粒间的距离沿着所述弹性柱从所述基底向所述质量块方向单调减小。

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