[发明专利]一种共同缺陷判定方法及判定装置

说明书

本申请公开了一种共同缺陷判定方法及判定装置，所述共同缺陷判定方法包括步骤：识别缺陷、缺陷差异比对以及结果判定，缺陷差异比对包括位置差异比对、灰度差异比对以及形态差异比对，判定发生共同缺陷需同时满足位置差异要求、灰度差异要求以及形态差异要求，该方法具有共同缺陷识别准确率高、快速的优点，有效避免“假报”现象的出现，从而提升生产线的产能，节省人力。所述的判定装置包括识别单元、存储单元和处理单元，识别单元、存储单元和处理单元之间通讯连接。所述的判定装置采用所述的共同缺陷判定方法，对液晶显示板的生产过程进行质量监控，及时拦截和判断共同缺陷，提高产品良品率和生产效率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及液晶显示板制造过程中的质量监测，具体涉及一种共同缺陷判定方法及判定装置。

背景技术

在液晶显示面板的制造工艺中，为了实时监控生产线的异常情况，通常引入自动光学检测技术对显示面板制造过程中的缺陷进行实时拦截和判断，从而避免异常后流造成资源的浪费，提高产品的良率。

现有的自动光学检测技术监控液晶显示板生产，具有快速、高效、节省人力的优点，但在检测共同缺陷上具有一定的局限性。共同缺陷指的是：在同一液晶显示板产品中，不同基板的相同位置发生的同类型缺陷；或者是，在连续生产的不同液晶显示板产品中，不同产品的相同位置发生的同类型缺陷。现有的自动光学检测技术在检测共同缺陷时，会出现“假报”现象，而一旦共同缺陷发生，生产线需立即停下以检查共同缺陷发生的原因，因此，当共同缺陷是“假的”时，会极大地浪费生产线产能，降低生产效率。

发明内容

本申请实施例提供了一种共同缺陷判定方法及判定装置，可用于液晶显示面板生产线的品质监控，提高共同缺陷的识别准确度，有效避免“假报”现象的出现。

一方面，本申请实施例提供一种共同缺陷的判定方法，包括如下步骤：

提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷；

将位于不同板体上的缺陷，两两配成缺陷对进行位置差异比对，以确保位于不同板体上的任意两个缺陷之间均能进行比对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求；

若无一缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则判定各个板体之间未发生共同缺陷；

若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对；

对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷。

在一些实施例中，所述提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷，其中，所述识别各个板体上的缺陷包括如下步骤：

对各个板体上需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个板体的检测图像；

对所述检测图像进行识别，以检测出各个板体上的缺陷。

在一些实施例中，所述识别各个板体上的缺陷，还包括步骤：在检测出各个板体上的缺陷之后，获取各个缺陷的数据信息。

在一些实施例中，所述获取各个缺陷的数据信息，包括：获取各个缺陷的灰度值。

在一些实施例中，所述获取各个缺陷的数据信息，还包括：获取各个缺陷的位置和形态信息，包括以下步骤：

以各个板体相邻的两条边分别作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，且各个板体的X轴和Y轴相对应；

获取各个缺陷在对应板体上的坐标；

根据各个缺陷的坐标，获取各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。