[发明专利]一种调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法

权利要求书

1.一种调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法，其特征在于，包括如下几个步骤:

步骤一：STDF文件的读取：对同一批lot的测试数据实时解析，即循环对同一个STDF文件多次读取；

步骤二：文件指针的保存：每次解析结束后保存一下当前的文件指针位置，下一次直接跳到当前位置继续往后解析，把每次保存的文件指针放在一个完整记录的结尾和下一个记录开始的地方，下次直接从下一个记录头开始解析，若最后一个记录不完整就把指针保存在最后一个完整记录的末尾；

步骤四：STDF文件的解析:每次保存的文件指针的位置是在一对完整PIR/PRR对的最后一个PRR末尾，若当前解析的最后一组数据不完整，则忽略最后一组数据，而保存的文件指针指向上一对完整的PIR/PRR对的末尾，当前这组不完整的数据留待下次解析；

步骤五：根据需求简化需要网络传输的数据：把解析出来的数据通过网络传输到web服务器上并存储到数据库中，使得web服务器把数据库中的实时数据展示到网页前台；

步骤六：自适应调整解析周期：在实时解析STDF的时候，测试机同时也在向STDF末尾添加新的测试数据，所以需要按照一个频率重复解析同一个STDF数据文件，只解析增量部分，不停获取新增的信息来实现实时监控系统的数据更新，设置一个固定的解析周期，为了保证系统刷新的及时，周期设置在1s～2s；

步骤七：解析测试时间：在解析了前面数颗芯片的测试数据后，从数据中取出相对准确的测试时间，若测试时间相对于“期望刷新时间”比较长，用解析出来的测试时间作为新的解析周期；

步骤八：通过上下料的时间间隙来解析STDF，包括如下两个步骤：

第一步：获取上下料时间：解析一定量的芯片数据，然后计算出上下料时间的平均值，为了计算出上下料时间，需要在解析程序中开启计时器，在解析了一定数量的芯片数据后，结合计时器的时间和测试时间来算出上下料时间，得出计算公式：i＝(L-∑t)/n，其中,i表示上下料时间，n表示测试的芯片数量，t表示测试时间，L表示定时器时长；

第二步，对上下料时间的调整：通过多组数据计算多次上下料时间，取其中的最小值；

步骤九：解析周期：知道了测试时间和上下料时间后，将解析时间点移至上下料的时间间隙，然后用测试时间加上下料时间作为默认解析周期来让每次解析时间点都在上下料的时间间隙；

步骤十：自动调整解析点到上下料时间间隙：当遇到解析点不在上下料时间间隙时，后面的每次解析点都让它提前一些，在测试稳定的时候，调整次数最多为：2t/i，调整后，解析点就回到上下料的时间间隙，然后再恢复默认解析时间间隔。