[发明专利]分布式数据库中的测量数据集的验证在审

专利信息
申请号: 202010439704.4 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN111984725A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: W.博尔德尔-厄梅尔;S.博莫瑟;R.厄姆勒;A.凯普卡;W.里德尔;J.西德尔 申请(专利权)人: 西门子股份公司
主分类号: G06F16/27 分类号: G06F16/27;G06F21/62;G06F21/64
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 刘畅
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 分布式 数据库 中的 测量 数据 验证
【权利要求书】:

1.一种分布式数据库(159)的基础架构(150)的挖掘节点(151-153),所述挖掘节点(151-153)包括控制电路(155-157),所述控制电路被配置为用于:

-获得(5001)测量数据集(91),所述测量数据集指示事件(81)的一个或多个可观测量(85),所述测量数据集(91)包括处理后的原始数据样本,

-在所述测量数据集与参考数据集之间进行(5003)比较,所述参考数据集包括与所述事件(81)相关联的一个或多个预先定义的约束(702、711、712)或者另一个测量数据集(92)中的至少一个,所述另一个测量数据集指示所述事件(81)的一个或多个另外的可观测量(86),并且

-根据所述比较的结果:选择性地触发针对所述测量数据集(91)的一个或多个验证措施(5005、5006),在所述分布式数据库处实现所述一个或多个验证措施。

2.根据权利要求1所述的挖掘节点,

其中,所述测量数据集包括第一地理位置(701),

其中,所述一个或多个预先定义的约束包括第二地理位置(702),

其中,所述比较基于所述第一地理位置与所述第二地理位置之间的空间距离。

3.根据权利要求1或2所述的挖掘节点,

其中,所述测量数据集包括一个或多个时间戳(711),

其中,所述一个或多个预先定义的约束包括时序约束(712、73),

其中,所述比较基于所述一个或多个时间戳与所述时序约束之间的时域距离。

4.根据权利要求3所述的挖掘节点,

其中,所述时序约束包括所述事件的阈值重复率。

5.根据前述权利要求中任一项所述的挖掘节点,其中,所述控制电路还被配置为用于:

-从oracle(101)接收原始数据样本,并且

-对所述原始数据样本进行处理,以获得包括所述处理后的原始数据样本的所述测量数据集。

6.根据权利要求5所述的挖掘节点,

其中,所述处理基于具有有效期的预先定义的算法,

其中,如果所述原始数据样本的一个或多个时间戳与所述预先定义的算法的有效期一致,则选择性地对所述原始数据样本进行处理,

其中,可选地将所述测量数据集与以下内容中的至少一个相关联:所述处理的时间戳,或者指示所述预先定义的算法的指示,或者所述预先定义的算法的有效期。

7.根据前述权利要求中任一项所述的挖掘节点,

其中,所述事件与工业现场设备的一个或多个操作特性相关联,

其中,所述处理后的原始数据样本对应于所述一个或多个操作特性的一个或多个品质因数。

8.根据前述权利要求中任一项所述的挖掘节点,其中,所述控制电路还被配置为用于:

-触发所述原始数据样本在非分布式数据库中的存储。

9.根据前述权利要求中任一项所述的挖掘节点,

其中,所述比较基于具有有效期的预先定义的度量,

其中,所述一个或多个验证措施包括:将所述比较的结果存储在所述分布式数据库中,并且将所述比较的时间戳存储在所述分布式数据库中,并且所述将预先定义的度量存储在所述分布式数据库中。

10.根据权利要求9所述的挖掘节点,其中,所述控制电路还被配置为用于:

-在所述预先定义的度量的有效期到期时,在多个利益相关方节点之间触发所述预先定义的度量的重新协商。

11.根据前述权利要求中任一项所述的挖掘节点,

其中,所述测量数据集包括所述原始数据样本的数字签名。

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