[发明专利]光学坐标测量系统数据采集的信号同步电路及装置在审
申请号: | 202010439840.3 | 申请日: | 2020-05-22 |
公开(公告)号: | CN111585565A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 刘京亮;李喆;朱誉;赵子厚;李静;王琳琳;刘孟晨 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175;G01B11/00 |
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地址: | 100076*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 坐标 测量 系统 数据 采集 信号 同步 电路 装置 | ||
本发明公开了一种光学坐标测量系统数据采集的信号同步电路及装置。该信号同步电路包括:光电耦合模块和差分信号电路;光电耦合模块的输入端接收信号源;光电耦合模块将信号源进行处理,获得控制器脉冲信号及传感器脉冲信号;光电耦合模块的第一输出端将控制器脉冲信号发送至多轴控制器;光电耦合模块的第二输出端将传感器脉冲信号发送至差分信号电路;差分信号电路对传感器脉冲信号进行处理,获得传感器差分信号,并将传感器差分信号发送至光学测头传感器。可见,本发明实现了多轴控制器和光学测头传感器的采集数据的同步性,从而保证测量结果能够同步锁存,防止采集数据不同步的现象发生,提高了光学坐标测量系统的精密度。
技术领域
本发明涉及光学坐标测量技术领域,特别涉及一种光学坐标测量系统数据采集的信号同步电路及装置。
背景技术
光学坐标测量系统,主要特点是检测效率高,在汽车、船舶、航空航天领域的应用最为广泛,主要用于加工零部件的终检,在装配之前检测加工工件合格率,从而保证系统产品的合格。
现有的光学坐标测量系统测量过程中坐标测量系统三轴X、Y、Z的测量结果与光学测头传感器的测量结果未能同步获取、同步保存,因而导致检测精度不够。
能否实现同步采集三坐标轴X、Y、Z的测量数据和光学测头传感器的测量数据提高光学坐标测量系统的精密度的关键。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的光学坐标测量系统数据采集的信号同步电路及装置。
本发明的一个实施例提供一种光学坐标测量系统数据采集的信号同步电路,包括:
光电耦合模块和差分信号电路;
所述光电耦合模块的输入端接收信号源;
所述光电耦合模块将所述信号源进行处理,获得控制器脉冲信号及传感器脉冲信号;
所述光电耦合模块的第一输出端将所述控制器脉冲信号发送至多轴控制器;所述光电耦合模块的第二输出端将所述传感器脉冲信号发送至差分信号电路;
所述差分信号电路对所述传感器脉冲信号进行处理,获得传感器差分信号,并将所述传感器差分信号发送至光学测头传感器。
可选地,所述差分信号电路包括差分信号芯片。
可选地,该信号同步电路还包括:电源转换电路;
所述电源转换电路与所述差分信号电路相连,用于为所述差分信号芯片供电。
可选地,所述差分信号芯片型号为MAX9123EUE。
可选地,所述光电耦合模块包括:光电耦合芯片。
可选地,所述光电耦合芯片的型号为TLP521-4。
可选地,所述控制器脉冲信号及传感器脉冲信号的频率为10-2000HZ。
本发明的另一个实施例提供一种光学坐标测量系统数据采集的装置,该装置包括:多轴控制器、光学测头传感器及上述的信号同步电路;
所述信号同步电路的输入端接收信号源,所述信号同步电路对所述信号源进行处理,获得控制器脉冲信号及传感器差分信号;
所述信号同步电路的第一输出端连接所述多轴控制器,以将所述控制器脉冲信号发送至所述多轴控制器,所述多轴控制器根据所述控制器脉冲信号采集坐标轴数据;
所述信号同步电路的第二输出端连接所述光学测头传感器,以将所述传感器差分信号发送至所述光学测头传感器,所述光学测头传感器根据所述传感器差分信号采集光学数据。
可选地,所述多轴传感器为Pantec多轴传感器。
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