[发明专利]非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置及方法在审
| 申请号： | 202010441653.9 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111489786A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 郑彦磊;朱笑鶤 | 申请（专利权）人： | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海欣创专利商标事务所 31217 | 代理人： | 包宇霆 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 挥发性 存储器 芯片 可靠性 测试 装置 方法 | ||
1.一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：
所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：
所述控温系统包括高温箱和低温箱。
2.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述中控板系统包括供电模块和读写擦除数据模块。
3.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统包括NVM读写模块和实时Pass/Fail判断模块。
4.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统还包括芯片数据传输模块，用于对芯片数据进行传输。
5.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统还包括中控板控制模块，用于对所述中控板进行控制。
6.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统还包括测试数据反馈模块，用于对所述测试数据进行反馈。
7.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统还包括数据计算模块，用于判断中控板是否处于异常状态。
8.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述上位机软件系统还包括故障自检修复模块，用于对中控板进行故障自检修复。
9.根据权利要求1所述的一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其特征在于，所述非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置还包括嵌入式单片机系统，所述嵌入式单片机系统与所述上位机软件系统连接。
10.一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
启动上位机并显示实时数据；
判断上位机是否正常；
若否，重启上位机；
若是，启动中控板；
判断所述中控板是否正常工作；
若否，重启中控板；
若是，向老化板发送试验信号并启动可控电源供电；
将试验数据不断的反馈给所述中控板；
判断所述试验数据是否正常；
若否，重启中控板。
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