[发明专利]一种SDK异常排查方法及装置、计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种SDK异常排查方法，所述方法包括：获取APP运行时的SDK异常信息；根据所述SDK异常信息修复SDK代码，将修复后的所述SDK代码打包生成修复后的dex文件；重新启动所述APP，调用SDK启动接口，加载所述修复后的dex文件，并将所述修复后的dex文件合并至原始SDK后并执行。本发明还提供了一种SDK异常排查装置、计算机可读存储介质。本发明可以实现在无需APP开发者协助的情况下，完成对SDK异常问题的排查、修复、验证，从而减少SDK开发者与APP开发者的沟通。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种基于SDK异常排查方法及装置、计算机可读存储介质。

背景技术

SDK(Software Development Kit，软件开发工具包)是为特定的软件包、软件框架、硬件平台、操作系统等建立应用软件时的开发工具的集合。在SDK嵌入APP(Application，应用软件)后，APP的运营过程中，SDK可能会出现异常，SDK开发者则需及时排查APP中SDK的异常问题。

现有的SDK异常问题排查方法。通常为：SDK嵌入APP后，若SDK出现异常，则将异常信息反馈给SDK开发者。SDK开发者根据异常信息向SDK中添加测试代码，并打包发送给APP开发者重新嵌入并执行，在执行过程中，APP开发者查看APP运营过程中SDK是否仍然存在异常，若存在则将异常信息反馈给SDK开发者，然后继续反复执行上述操作过程，直至SDK的异常问题修复。在实现本发明的过程中，发明人发现现有的SDK异常问题排查方法至少存在以下问题：

为了定位以及修复异常问题，并验证异常问题的修复结果，需要APP开发者反复协助SDK开发者向APP中重新嵌入修复后的SDK，并需要双方进行反复沟通。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明实施例提供了一种SDK异常排查方法及装置、计算机可读存储介质。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种SDK异常排查方法，所述方法包括：

获取APP运行时的SDK异常信息；

根据所述SDK异常信息修复SDK代码，将修复后的所述SDK代码打包生成修复后的dex文件；

重新启动所述APP，调用SDK启动接口，加载所述修复后的dex文件，并将所述修复后的dex文件合并至原始SDK后形成新SDK并执行；

根据所述新SDK的执行结果与执行过程日志，验证所述SDK异常信息是否修复。

进一步的，在将修复后的所述SDK代码打包生成所述修复后的dex文件之后，所述方法还包括：将所述修复后的dex文件发送至外部存储空间。

进一步的，所述调用SDK启动接口，加载所述修复后的dex文件，并将所述修复后的dex文件合并至原始SDK后形成新SDK并执行具体包括：

判断所述外部存储空间是否存在所述修复后的dex文件；

若存在，则通过DexClassLoader加载所述修复后的dex文件，通过PathClassLoader加载所述原始SDK；

将所述修复后的dex文件合并至所述原始SDK，形成新SDK，其中所述修复后的dex文件中包含的类置于所述原始SDK所包含的类之前；

将所述新SDK重新赋值给所述PathClassLoader加载并执行。

进一步的，在获取APP运行时的SDK异常信息之前，所述方法还包括：执行所述原始SDK或者所述新的SDK，并判断是否异常。

进一步的，所述根据所述SDK异常信息修复SDK代码，包括：

根据所述原始SDK的代码混淆规则，生成所述修复后的dex文件。