[发明专利]磁极覆层缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

获取磁极覆层表面的目标测试区域对应的电流信号；

根据所述电流信号，确定对应的缺陷信息参数；

根据所述缺陷信息参数，确定所述目标测试区域是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述获取磁极覆层表面的目标测试区域的电流信号，包括：

在所述磁极覆层与磁极之间施加测试电压；

获取在所述测试电压下所述目标测试区域的第一电导电流信号。

3.根据权利要求2所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据所述电流信号，确定对应的缺陷信息参数，包括：

根据所述第一电导电流信号所对应的电导电流和所述测试电压，确定所述目标测试区域对应的绝缘电阻。

4.根据权利要求3所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷信息参数，确定所述目标测试区域是否存在缺陷，包括：

根据所述绝缘电阻与基准绝缘电阻的差值关系，确定所述目标测试区域是否存在缺陷。

5.根据权利要求4所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据所述绝缘电阻与基准绝缘电阻的差值关系，确定所述目标测试区域是否存在缺陷之前，包括：

根据完全覆盖磁极的所述磁极覆层对应的绝缘电阻，确定所述基准绝缘电阻。

6.根据权利要求1所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述获取磁极覆层表面的目标测试区域的电流信号，包括：

在所述磁极覆层与所述磁极之间施加设定电压；所述设定电压大于第一击穿电压且小于第二击穿电压；

获取在所述设定电压下所述目标测试区域的第二电导电流信号。

7.根据权利要求6所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷信息参数，确定所述目标测试区域是否存在缺陷，包括：

根据所述第二电导电流信号所对应的电导电流与基准电导电流的差值关系，确定所述目标测试区域是否存在缺陷。

8.根据权利要求1所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述获取磁极覆层表面的目标测试区域的电流信号，包括：

在所述磁极覆层表面与所述磁极之间施加交流电压；

获取在所述交流电压下所述目标测试区域的测试电流信号；

以及，所述根据所述电流信号，确定对应的缺陷信息参数，包括：

根据所述测试电流信号，确定所述目标测试区域的介电损耗；

以及，所述根据所述缺陷信息参数，确定所述目标测试区域是否存在缺陷，包括：

根据所述介电损耗，确定所述目标测试区域是否存在缺陷。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，在所述获取磁极覆层表面的目标测试区域所对应的电流信号之前，包括：

在所述磁极的表面制作磁极覆层；

获取所述磁极覆层的固化时间。

10.根据权利要求9所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述获取所述磁极覆层的固化时间，包括：

实时获取所述磁极覆层中至少一个测试点的电阻率、电容、介电常数和介电损耗中的至少一个参数；

根据所述电阻率、电容、介电常数和介电损耗中的至少一个参数，确定所述磁极覆层达到固化终点所对应的固化时间。

11.根据权利要求9所述的磁极覆层缺陷的检测方法，其特征在于，所述获取所述磁极覆层的固化时间，包括：

间隔获取所述磁极覆层中至少一个测试点所对应的电阻率、介电常数和介电损耗中的至少一个参数；

根据所述电阻率、介电常数和介电损耗中的至少一个参数，确定所述磁极覆层达到固化终点所对应的固化时间。