[发明专利]一种边界扫描测试方法、装置、设备、芯片及存储介质

权利要求书

1.一种边界扫描测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测芯片的至少一个焊盘位置信息；

根据所获取的至少一个焊盘位置信息，确定边界扫描链的逻辑时序；

基于所述逻辑时序，对所述待测芯片进行边界扫描测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述待测芯片的测试信息；其中，所述测试信息为包含边界扫描测试的端口控制逻辑测试信息；

相应地，所述对所述待测芯片进行边界扫描测试，包括：

执行所述测试信息，控制所述待测芯片根据所述逻辑时序进行边界扫描测试。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测芯片的测试信息，包括：

根据所述至少一个焊盘位置信息，生成至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息；其中，所述新端口控制逻辑测试信息包含边界扫描测试信息；

将所述至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息确定为所述待测芯片的测试信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个焊盘位置信息，生成至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息，包括：

基于所述至少一个焊盘位置信息，将每一焊盘位置信息的边界扫描测试信息对应写入每一焊盘的端口控制逻辑测试信息中，生成每一焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息，以得到所述至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述获取待测芯片的至少一个焊盘位置信息之后，所述方法还包括：

将所述至少一个焊盘位置信息保存至预设表；其中，所述预设表至少包括焊盘与焊盘位置信息之间的对应关系；

相应地，所述根据所述至少一个焊盘位置信息，生成至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息，包括：

根据所述预设表，生成所述至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将边界扫描单元设置在端口控制逻辑单元与输入输出端口单元之间。

7.一种边界扫描测试装置，其特征在于，所述边界扫描测试装置包括获取单元、确定单元和测试单元；其中，

所述获取单元，配置为获取待测芯片的至少一个焊盘位置信息；

所述确定单元，配置为根据所获取的至少一个焊盘位置信息，确定边界扫描链的逻辑时序；

所述测试单元，配置为基于所述逻辑时序，对所述待测芯片进行边界扫描测试。

8.根据权利要求7所述的边界扫描测试装置，其特征在于，所述确定单元，还配置为确定所述待测芯片的测试信息；其中，所述测试信息为包含边界扫描测试的端口控制逻辑测试信息；

所述测试单元，具体配置为执行所述测试信息，控制所述待测芯片根据所述逻辑时序进行边界扫描测试。

9.根据权利要求7所述的边界扫描测试装置，其特征在于，所述边界扫描测试装置还包括生成单元，配置为根据所述至少一个焊盘位置信息，生成至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息；其中，所述新端口控制逻辑测试信息包含边界扫描测试信息；

所述确定单元，具体配置为将所述至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息确定为所述待测芯片的测试信息。

10.根据权利要求9所述的边界扫描测试装置，其特征在于，所述生成单元，具体配置为基于所述至少一个焊盘位置信息，将每一焊盘位置信息的边界扫描测试信息对应写入每一焊盘的端口控制逻辑测试信息中，生成每一焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息，以得到所述至少一个焊盘对应的新端口控制逻辑测试信息。