[发明专利]一种多介质条件下物像映射关系标定方法及标定装置有效

专利信息
申请号: 202010453260.X 申请日: 2020-05-26
公开(公告)号: CN111710001B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 许传龙;朱效宇;张彪;吴治安;李健 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80;G06T7/70
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 介质 条件下 物像 映射 关系 标定 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种多介质条件下物像映射关系的标定方法,其特征在于,基于笼式光场相机进行标定,包括如下步骤:

预标定笼式光场相机的内参数;

利用已预标定的笼式光场相机拍摄光场图像;

提取光场图像中子孔径图像圆心的像素坐标(s,t),并转换为圆点发出的光线入射微透镜的位置坐标(S,T);

根据圆点世界坐标(X,Y,Z)与圆点发出的光线入射微透镜的位置坐标(S,T)之间的映射关系,计算光线从目标物点(X0,Y0,Z0)入射微透镜的位置坐标(S0,T0);

追迹光线从微透镜阵列至图像传感器平面的对应像素上,将该像素的强度值加上光线的强度;将最终得到的图像像素强度进行归一化,即得到目标物点与像素间的映射关系;

圆点世界坐标(X,Y,Z)与圆点发出的光线入射微透镜的位置坐标(S,T)之间的映射关系为:

S=as1+as2X+as3Y+as4Z+as5U+as6V+as7X2+as8XY+as9XZ+as10XU

+as11XV+as12Y2+as13YZ+as14YU+as15YV+as16Z2+as17ZU+as18ZV

+as19U2+as20UV+as21V2+as22X3+as23X2Y+as24X2Z+as25X2U+as26X2V

+as27XY2+as28XYZ+as29XYU+as30XYV+as31XZ2+as32XZU+as33XZV

+as34XU2+as35XUV+as36XV2+as37Y3+as38Y2Z+as39YZ2+as40YZU

+as41YZV+as42Y2U+as43YU2+as44YUV+as45Y2V+as46YV2+as47Z3

+as48Z2U+as49ZU2+as50ZUV+as51ZV2+as52ZV2+as53U3+as54U2V

+as55UV2+as56V3

T=at1+at2X+at3Y+at4Z+at5U+at6V+at7X2+at8XY+at9XZ+at10XU

+at11XV+at12Y2+at13YZ+at14YU+at15YV+at16Z2+at17ZU+at18ZV

+at19U2+at20UV+at21V2+at22X3+at23X2Y+at24X2Z+at25X2U+at26X2V

+at27XY2+at28XYZ+at29XYU+at30XYV+at31XZ2+at32XZU+at33XZV

+at34XU2+at35XUV+at36XV2+at37Y3+at38Y2Z+at39YZ2+at40YZU

+at41YZV+at42Y2U+at43YU2+at44YUV+at45Y2V+at46YV2+at47Z3

+at48Z2U+at49ZU2+at50ZUV+at51ZV2+at52ZV2+at53U3+at54U2V

+at55UV2+at56V3

式中,(U,V)为子孔径位置;as1~as56及at1~at56为待定系数;

为确定系数as1~as56及at1~at56,建立矩阵A及向量s’,t’:

s'=[S1(U1,V1)S2(U1,V1)S3(U1,V1)…S1(U2,V1)…Sn(Um,Vm)]T

t'=[T1(U1,V1)T2(U1,V1)T3(U1,V1)…T1(U2,V1)…Tn(Um,Vm)]T

其中:n表示标定板的圆点总数目,m表示每个微透镜所覆盖的像素数目;

采用左除法分别计算系数向量as,at

as=A\s'

at=A\t'

其中:as=[as1,at2,at3,…as56],at=[at1,at2,at3,…at56]。

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