[发明专利]高精度扁线测径设备及其测径方法

权利要求书

1.一种高精度扁线测径方法，其特征在于，其包括以下步骤：

（1）通过前扁线调正支撑机构和后扁线调正支撑机构对需要测量的扁线进行支撑和调正，使扁线的中心线与所述激光测径仪的测量光束的中心位置相对正；向前输送扁线经过激光测径仪的测量区域；

（2）当需要测量扁线的厚度时，旋转驱动装置驱动激光测径仪旋转使其的测量光束朝向于扁线的厚度基面，通过激光测径仪持续对扁线的厚度基面进行测量，在测量过程中，旋转驱动装置驱动激光测径仪正负偏转一定角度，激光测径仪获得扁线在其偏转角度范围内测量的若干厚度数值，取最小厚度数值的为扁线的厚度值；

（3）当需要测量扁线的宽度时，旋转驱动装置驱动激光测径仪旋转使其的测量光束朝向于扁线的宽度基面，通过激光测径仪持续对扁线的宽度基面进行测量，在测量过程中，旋转驱动装置驱动激光测径仪正负偏转一定角度，激光测径仪获得扁线在其偏转角度范围内测量的若干宽度数值，取最小宽度数值的为扁线的宽度值；

所述步骤（2）、（3）不分先后顺序。

2.根据权利要求1所述的高精度扁线测径方法，其特征在于，采用所述步骤（2）对扁线的N个部位进行测量，获得N个部位的最小厚度数值，将N个部位的最小厚度数值加起来求和，然后除以N，获得最小平均厚度数值，所述N为正整数。

3.根据权利要求1所述的高精度扁线测径方法，其特征在于，采用所述步骤（3）对扁线的n个部位进行测量，获得n个部位的最小宽度数值，将n个部位的最小宽度数值加起来求和，然后除以N，获得最小平均宽度数值，所述n为正整数。

4.根据权利要求1所述的高精度扁线测径方法，其特征在于，所述步骤（2）和步骤（3）交互进行，以精确获得扁线的厚度数值和宽度数值。

5.一种高精度扁线测径设备，其包括机架，其特征在于，其还包括前扁线调正支撑机构、后扁线调正支撑机构、激光测径仪和旋转驱动装置，所述前扁线调正支撑机构、旋转驱动装置和后扁线调正支撑机构依次排列设置在所述机架上，所述激光测径仪对应扁线的输送轨迹设置在旋转驱动装置上，并受该旋转驱动装置的驱动以扁线的输送轨迹线作旋转动作。

6.根据权利要求1所述的高精度扁线测径设备，其特征在于，所述前扁线调正支撑机构包括支座、转轴、锁定螺丝、支臂、调节螺丝、导轴、单侧导轮、调宽轮和锁定轮，所述支座设置在所述机架上，该支座上设有与所述转轴相适配的安装孔，该支座上对应安装孔的位置设有径向伸入该安装孔的锁定螺孔，所述转轴插入安装孔内，所述锁定螺丝拧入锁定螺孔并顶压在所述转轴上，所述支臂的下端设有与所述转轴相适配的轴向滑孔，该支臂上对应轴向滑孔的位置设有径向伸入该轴向滑孔的调节螺孔，调节螺丝拧入调节螺孔并顶压在所述转轴上，所述导轴设置在支臂的上端，所述单侧导轮活动套设在导轴上，该单侧导轮的靠近支臂的一端径向凸起形成挡部，另一端呈圆筒状形成旋接部，该旋接部上设有外螺纹，所述调宽轮和锁定轮依次套设在旋接部上，且均设有与外螺纹相适配的内螺纹。

7.根据权利要求6所述的高精度扁线测径设备，其特征在于，所述单侧导轮通过轴套或轴承套设在导轴上。

8.根据权利要求5所述的高精度扁线测径设备，其特征在于，所述旋转驱动装置包括支架、中空步进电机和旋转架，所述支架垂直设置在机架上，该支架上对应扁线的输送轨迹设有安装口，所述中空步进电机安装在该安装口上，且该中空步进电机的转轴上轴向设有让扁线穿过的通孔，所述旋转架设置在所述中空步进电机的转轴上。

9.根据权利要求8所述的高精度扁线测径设备，其特征在于，所述旋转架包括正板和侧板，所述正板的一端设有与所述中空步进电机的转轴相适配的夹孔，另一端逐渐增大形成安装部，所述侧板的一侧边垂直连接在该安装部上，另一侧设有用来安装所述激光测径仪的装配孔。

10.根据权利要求8或9所述的高精度扁线测径设备，其特征在于，其还包括接近开关和感应环，该感应环套设在所述中空步进电机的转轴上，所述接近开关对应感应环的位置设置在支架上，且在感应环上设有在所述激光测径仪的测量光束朝向于扁线的宽度基面时与接近开关相适配的宽度凸台以及在所述激光测径仪的测量光束朝向于扁线的厚度基面时与接近开关相适配的厚度凸台。