[发明专利]一种测量像增强器阴极近贴距离的方法

权利要求书

1.一种测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于包括以下步骤：

S1测量准备

S1.1沿测量的光轴方向，依次设置钨丝灯(11)、光栏(12)、积分球(13)、针孔(14)、物镜(15)、像增强器(10)、目镜(16)、CMOS相机(17)和计算机(18)，使得：

(1)钨丝灯(11)发出的光线通过光栏(12)进入积分球(13)，再通过针孔(14)出射，针孔(14)的像被物镜(15)成像在像增强器(10)的光电阴极(2)上；

(2)所述针孔(14)的像经过像增强器(10)倍增，从像增强器的输出窗(5)输出，经目镜(16)成像在CMOS相机(17)上，并在计算机(18)上显示出；

S1.2开启钨丝灯(11)、像增强器(10)、CMOS相机(17)以及计算机(18)，使它们正常工作；

S1.3在测量的光轴方向，不断对物镜(15)和目镜(16)的聚焦距离进行调整，使针孔(14)的图像清晰的在计算机(18)的屏幕上显示，且亮斑(9-1)的亮度远远高于亮环(9-2)的亮度，并最终在计算机(18)的屏幕上能分辨出亮环(9-2)的图像；

S2测量亮环(9-2)的直径Φ与亮斑(9-1)的直径

S3计算出像增强器的阴极近贴距离d

2.根据权利要求1所述的测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于：

所述针孔(14)的直径为0.2mm，物镜(15)以及目镜(16)的几何放大倍率为1。

3.根据权利要求1所述的测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于：

提高所述亮环(9-2)的亮度通过提高针孔(14)的亮度实现。

4.根据权利要求1所述的测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于：

要达到测量所述亮环(9-2)所需要的照度，通过提高所述钨丝灯(11)的功率以及改变所述光栏(12)的孔径来进行调整。

5.根据权利要求1所述的测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于：

投射到所述像增强器(10)阴极输入窗表面(10-1)上的照度为50Lx至150Lx。

6.一种测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于包括以下步骤：

S1测量准备

S1.1沿测量的光轴方向，依次设置钨丝灯(11)、光栏(12)、积分球(13)、针孔(14)、物镜(15)、像增强器(10)、目镜(16)、CMOS相机(17)和计算机(18)，使得：

(1)钨丝灯(11)发出的光线通过光栏(12)进入积分球(13)，再通过针孔(14)出射，针孔(14)的像被物镜(15)成像在像增强器(10)的光电阴极(2)上；

(2)所述针孔(14)的像经过像增强器(10)倍增，从像增强器的输出窗(5)输出，经目镜(16)成像在CMOS相机(17)上，并在计算机(18)上显示出；

S1.2开启钨丝灯(11)、像增强器(10)、CMOS相机(17)以及计算机(18)，使它们正常工作；

S1.3在测量的光轴方向，不断对物镜(15)和目镜(16)的聚焦距离进行调整，使针孔(14)的图像清晰的在计算机(18)的屏幕上显示，且亮斑(9-1)的亮度远远高于亮环(9-2)的亮度，并最终在计算机(18)的屏幕上能分辨出亮环(9-2)的图像；

S2测量计算校正系数k

在计算机屏幕上能分辨出亮环(9-2)的图像后，利用计算机(18)测量出屏幕上亮斑(9-1)的直径的读数C1，根据下式计算出计算机测量标尺的校正系数k：

S3测量计算阴极近贴距离d

再利用计算机(18)测量出屏幕上亮环(9-2)的直径Φ的读数C2，根据下式计算出像增强器的阴极近贴距离d：

7.根据权利要求6所述的测量像增强器阴极近贴距离的方法，其特征在于：

所述针孔(14)的直径为0.2mm，物镜(15)以及目镜(16)的几何放大倍率为1。