[发明专利]基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量装置及方法

权利要求书

1.基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量装置，其特征在于：所述装置沿光线入射的方向，依次包括光电自准直仪(2)、楔形平板第一工作面(4)、楔形平板第二工作面(5)，所述光电自准直仪(2)安装于二维平移装置(1)上。

2.根据权利要求1所述的基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量装置，其特征在于：所述二维平移装置(1)轨道式二维平移机构，包括横向平移轨道和纵向平移轨道。

3.基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量方法，包括：

步骤一：将光电自准直仪(2)安装在二维平移装置(1)上；

步骤二：光电自准直仪(2)出射光束，经由楔形平板第一工作面(4)分光，形成第一光束和第二光束；

步骤三：第一光束经第一工作面(4)反射返回到光电自准直仪(2)，由光电自准直仪(2)测量得到偏转角θ₁(x₁，y₁)；

步骤四：第二光束从第一工作面(4)透射入射到第二工作面(5)，经由第二工作面(5)反射后再由第一工作面(4)透射，被光电自准直仪(2)接收，测得偏转角θ₂(x₁，y₁)，进而获得(x₁，y₁)测试点处的两面夹角Δθ₁(x₁，y₁)；

步骤五：使用二维平移装置(1)对楔形平板(3)区域扫描，直至测量整个区域；重复步骤三，步骤四的过程，获得一组夹角测量值Δθ₁(x₁，y₁)，Δθ₂(x₂，y₂)，…….Δθ_n(x_n，y_n)；

步骤六：对步骤五中的各组夹角测量值取均值，从而得到楔形平板两个面的夹角。

4.根据权利要求3所述的基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量方法，其特征在于：所述步骤四中，利用公式计算出(x₁，y₁)测试点处的两面夹角Δθ₁(x₁，y₁)。

5.根据权利要求3所述的基于光电自准直仪的楔形平板夹角测量方法，其特征在于：通过利用光电自准直仪对楔形平板进行多点位扫描测量，从而得到多测量点位的夹角数据，对夹角数据求出均值，最终得出楔板的夹角。