[发明专利]修正测距异常的距离图像生成装置在审
申请号: | 202010462085.0 | 申请日: | 2020-05-27 |
公开(公告)号: | CN112014858A | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 高桥祐辉;渡边淳;中村稔 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G01S17/894 | 分类号: | G01S17/894 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 修正 测距 异常 距离 图像 生成 装置 | ||
1.一种距离图像生成装置,其特征在于,
该距离图像生成装置具备:
投光部,其向被摄体投射参照光;
受光部,其具有二维排列的多个像素;
光学系统,其将来自上述被摄体的光引导到上述受光部;
影响度计算单元,其根据上述多个像素中的关注像素及其周边像素的受光量来计算上述关注像素以及上述周边像素中的光学现象的影响度;
受影响度计算单元,其根据上述影响度来计算上述关注像素受上述周边像素影响的受影响度;以及
距离图像生成单元,其根据上述受影响度来生成上述被摄体的距离图像。
2.根据权利要求1所述的距离图像生成装置,其特征在于,
上述受影响度计算单元针对在相对于上述参照光相位不同的多个摄像定时所拍摄的多个相位图像,生成基于上述受影响度的受影响度图像,上述距离图像生成单元根据上述相位图像与上述受影响度图像之间的差分图像来生成上述距离图像。
3.根据权利要求1或2所述的距离图像生成装置,其特征在于,
上述影响度计算单元根据上述影响度来生成影响度图像,上述受影响度计算单元根据上述受影响度来生成受影响度图像,上述距离图像生成装置还具备显示上述影响度图像以及上述受影响度图像中至少一个的显示单元。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的距离图像生成装置,其特征在于,
上述影响度计算单元根据上述关注像素以及上述周边像素中的受光量的分布来计算用于计算上述影响度的影响度系数。
5.根据权利要求4所述的距离图像生成装置,其特征在于,
上述影响度系数根据从图像中心到上述关注像素或上述周边像素的距离和由上述关注像素以及上述周边像素构成的区域内的位置中的至少一方来进行计算,使得以上述关注像素为中心成为不对称。
6.根据权利要求1所述的距离图像生成装置,其特征在于,
上述影响度计算单元根据上述关注像素以及上述周边像素中的受光量的分布来计算用于计算上述影响度的影响度系数,上述受影响度计算单元根据上述影响度系数与上述周边像素的测距值之间的关系来计算上述受影响度。
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