[发明专利]发光二极管外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010462407.1 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN111834496B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 从颖;姚振;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【说明书】:

本公开提供了一种发光二极管外延片及其制备方法,属于发光二极管技术领域。GaN成核层与GaN填平层之间的插入层包括依次层叠在GaN成核层上的SiN子层、InN子层与AlGaN子层。SiN子层的表面平整度相对较好。SiN子层上层叠的InN子层性质较为稳定,在SiN子层上生长时,不易由于高温而出现分解的情况,保证InN子层生长完毕时,InN子层整体表面较为均匀,AlGaN子层可以形成Ga原子占据较大面积的Ga性表面,Ga原子占据较大面积的Ga性表面则可以与GaN填平层进行良好接触,使得在AlGaN子层上生长的GaN填平层具有较好的晶体质量与表面平整度,最终提高发光二极管外延片的晶体质量。

技术领域

本公开涉及到了发光二极管技术领域,特别涉及到一种发光二极管外延片及其制备方法。

背景技术

发光二极管是一种应用非常广泛的发光器件,常用于通信号灯、汽车内外灯、城市照明和景观照明等,发光二极管外延片则是用于制备发光二极管的基础结构。发光二极管外延片通常包括衬底及衬底上生长的外延层,外延层至少包括依次层叠在衬底上的GaN缓冲层、n型GaN层、发光层及p型GaN层。

GaN缓冲层可以减小n型GaN层与衬底之间的晶格失配,提高n型GaN层本身及在n型GaN层上生长的发光层及p型GaN层的晶体质量。但GaN缓冲层减小晶格失配的效果有限,GaN缓冲层及GaN缓冲层上层叠的n型GaN层等结构在生长时,仍会存在较多的缺陷与应力,且缺陷与应力会在外延层整体的生长过程中持续积累与延伸,导致最终得到的外延层的晶体质量仍不够理想。

发明内容

本公开实施例提供了一种发光二极管外延片及其制备方法,可以发光二极管外延片中外延层的晶体质量。所述技术方案如下:

本公开实施例提供了一种发光二极管外延片及其制备方法,所述发光二极管外延片包括衬底及生长在所述衬底上的外延层,所述外延层包括在所述衬底上依次层叠的GaN成核层、插入层、GaN填平层、n型GaN层、发光层及p型GaN层,

所述插入层包括依次层叠在所述GaN成核层上的SiN子层、InN子层与AlGaN子层。

可选地,所述GaN成核层包括多个GaN岛状结构,所述多个GaN岛状结构间隔设置在所述衬底上,所述SiN子层、所述InN子层与所述AlGaN子层依次层叠在所述GaN岛状结构上,且所述SiN子层远离所述衬底的表面、所述InN子层远离所述衬底的表面、所述AlGaN子层远离所述衬底的表面均具有凹陷。

可选地,所述GaN填平层远离所述衬底的表面平行于所述衬底的表面。

可选地,所述SiN子层的厚度为20~30nm。

可选地,所述InN子层的厚度为5~10nm。

可选地,所述AlGaN子层的厚度为10~20nm。

本公开实施例提供了一种发光二极管外延片制备方法,所述发光二极管外延片制备方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上生长GaN成核层;

在所述GaN成核层上生长插入层,所述插入层包括依次层叠在所述GaN成核层上的SiN子层、InN子层与AlGaN子层;

在所述插入层上生长GaN填平层;

在所述GaN填平层上生长n型GaN层;

在所述nGaN型层上生长发光层;

在所述发光层上生长p型GaN层。

可选地,在所述衬底上生长所述GaN成核层后,在所述SiN子层上生长InN子层前,向反应腔内通入10~50s的In源。

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