[发明专利]一种片上系统芯片的测试方法及系统

权利要求书

1.一种片上系统芯片的测试方法，其特征在于，包括：

接收上位机的测试开始指令；

根据上位机的测试开始指令对待测试芯片进行修调测试；

记录所述待测试芯片的修调测试结果；

将所述修调测试结果反馈至所述上位机；

接收所述上位机的测试结束指令。

2.根据权利要求1所述的片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述根据上位机的测试开始指令对待测试芯片进行修调测试，包括：

对待测试芯片的内核电压进行修调测试，得到内核电压修调测试结果；

对待测试芯片的时钟频率进行修调测试，得到时钟频率修调测试结果；

对待测试芯片的内部基础单元进行修调测试，得到内部基础单元修调测试结果。

3.根据权利要求2所述的片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述对待测试芯片的内核电压进行修调测试，得到内核电压修调测试结果，包括：

配置标准内核电压；

向待测试芯片输入测试电压；

采集所述待测试芯片的输出电压；

将所述输出电压与所述标准内核电压进行比较；

若所述电压与所述标准内核电压的差值在误差阈值范围内，则判定所述待测试芯片的内核电压修调测试成功。

4.根据权利要求2所述的片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述对待测试芯片的时钟频率进行修调测试，得到时钟频率修调测试结果，包括：

配置标准时钟频率；

采集并计算待测试芯片的时钟修调频率；

将所述时钟修调频率与所述标准时钟频率进行比较；

若所述时钟修调频率与所述标准时钟频率的差值在误差阈值范围内，则判定所述待测试芯片的时钟频率修调测试成功。

5.根据权利要求2所述的片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述对待测试芯片的内部基础单元进行修调测试，得到内部基础单元修调测试结果，包括：

配置内部基础单元测试标准；

将测试模式数据发送至待测试芯片；

接收所述待测试芯片反馈的测试数据；

将所述测试数据与所述内部基础单元测试标准进行比较；

若所述测试数据与所述内部基础单元测试标准的差值在误差阈值范围内，则判定所述待测试芯片的内部基础单元修调测试成功。

6.根据权利要求2所述的片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述根据上位机的测试开始指令对待测试芯片进行修调测试还包括：

对待测试芯片进行功能扩展修调测试，得到功能扩展修调测试结果。

7.一种片上系统芯片的测试系统，其特征在于，包括：主控装置和上位机，所述主控装置和所述上位机通信连接，所述主控装置包括存储器和处理器，所述存储器与所述处理器通信连接，所述存储器用于存储计算机指令，所述处理器用于加载并执行所述计算机指令以实现权利要求1至6中任意一项所述的片上系统芯片的测试方法。

8.根据权利要求7所述的片上系统芯片的测试系统，其特征在于，所述主控装置包括MCU。

9.根据权利要求8所述的片上系统芯片的测试系统，其特征在于，所述MCU还包括模数转换模块、时钟模块、SPI接口和GPIO口。

10.根据权利要求7所述的片上系统芯片的测试系统，其特征在于，所述主控装置与所述上位机通过USB接口通信连接。