[发明专利]基于SAR和ISR的电子密度预测方法、系统及设备

权利要求书

1.一种基于SAR和ISR的电子密度预测方法，其特征在于，包括步骤：

获取目标区域内电离层的SAR数据和ISR数据；

根据所述SAR数据计算出总电子含量分布；

根据计算出的所述总电子含量分布和ISR数据的电子密度剖线预测出三维电子密度;

所述根据所述SAR数据计算出总电子含量分布的步骤包括：

利用真实散射矩阵和观测散射矩阵，计算出法拉第旋转角；其中，利用全极化的SAR数据计算法拉第旋转角；

根据计算出的所述法拉第旋转角计算出总电子含量分布；

所述根据计算出的所述总电子含量分布和ISR数据中的电子密度剖线预测出三维电子密度的步骤包括：

选取所述ISR数据中任意一点的电子密度剖线；

以所述电子密度剖线为预设区域的基础电子密度剖线；

用所述总电子含量分布除以所述基础电子密度剖线所对应的总电子含量分布得到比例系数，再将所述预设区域的ISR的电子密度乘所述比例系数得到预测三维电子密度。

2.根据权利要求1所述的基于SAR和ISR的电子密度预测方法，其特征在于，所述根据计算出的所述法拉第旋转角计算出总电子含量分布的步骤包括：

利用法拉第旋转角与总电子含量分布的关系式，计算出总电子含量分布；所述法拉第旋转角与总电子含量分布的关系式为：

；

其中，VTEC为垂直总电子含量分布，为法拉第旋转角，为频率，为磁场强度，是SAR信号与磁场方向夹角，是SAR信号入射角。

3.一种基于SAR和ISR的电子密度预测系统，其特征在于，包括：

数据获取模块，用于获取目标区域内电离层的SAR数据和ISR数据，

总电子量计算模块，用于根据所述SAR数据计算出总电子含量分布；

密度预测模块，用于根据计算出的所述总电子含量分布和ISR数据的电子密度剖线预测出三维电子密度;

所述根据所述SAR数据计算出总电子含量分布的步骤包括：

利用真实散射矩阵和观测散射矩阵，计算出法拉第旋转角；其中，利用全极化的SAR数据计算法拉第旋转角；

根据计算出的所述法拉第旋转角计算出总电子含量分布；

所述根据计算出的所述总电子含量分布和ISR数据中的电子密度剖线预测出三维电子密度的步骤包括：

选取所述ISR数据中任意一点的电子密度剖线；

以所述电子密度剖线为预设区域的基础电子密度剖线；

用所述总电子含量分布除以所述基础电子密度剖线所对应的总电子含量分布得到比例系数，再将所述预设区域的ISR的电子密度乘所述比例系数得到预测三维电子密度。

4.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、与处理器通信连接的存储介质，所述存储介质适于存储多条指令；所述处理器适于调用所述存储介质中的指令，以执行实现上述权利要求1-2任一项所述的电子密度预测方法。

5.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1～2任一项所述的电子密度预测方法的步骤。