[发明专利]法兰连接件视觉检测及中心孔打孔装置有效

专利信息
申请号: 202010464179.1 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN111571310B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 刘书京;靳磊;张延岭 申请(专利权)人: 京鸿石油钻采工程技术有限公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20;B23B47/00;B23B41/00
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 赵红霞
地址: 053300*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 法兰 连接 视觉 检测 中心 打孔 装置
【权利要求书】:

1.法兰连接件视觉检测及中心孔打孔装置,其特征在于,包括:

底座,所述底座上端设有滑轨,所述滑轨长度方向与所述底座长度方向平行,所述底座的高度可调节;

旋转机构,设于所述底座上端,用于驱动连接件周向旋转;

探测机构,围绕所述旋转机构设置,借助于连接件旋转用于探测位于所述旋转机构上连接件的外壁质量缺陷信息;所述探测机构与所述旋转机构交替运行;

夹持机构,设于所述底座上端,用于夹持连接件并使连接件呈水平状,所述夹持机构对连接件的夹持高度和水平夹持位置可调;

机械臂,设于所述底座上,所述探测机构对位于所述旋转机构上的连接件检测完毕后且连接件为无缺陷,所述机械臂用于将连接件转运至所述夹持机构上;

打孔机构,设于所述底座上端且位于所述夹持机构的一侧,可沿所述滑轨滑动,用于向置于所述夹持机构上的连接件端部打中心孔,所述打孔机构对连接件的打孔深度可调;

第一控制机构,设于所述底座上,与所述探测机构电性连接,用于接收所述探测机构的探测信息并控制所述旋转机构旋转;以及

第二控制机构,设于所述底座上,用于控制所述打孔机构的打孔深度和控制所述夹持机构对连接件的夹持和释放动作;

在连接件的下方还设置有承托机构,承托机构包括两相对设置的圆弧形撑板,在圆弧形撑板的内壁上设有多个辊筒,辊筒可在圆弧形撑板上转动,当与连接件外壁接触后,通过旋转机构的驱动,则可带动多个辊筒转动,可使连接件与承托机构之间的摩擦力减小;

所述探测机构包括:

上探测单元,置于连接件上方,可沿连接件轴线方向移动,用于探测连接件外壁上部质量缺陷信息;以及

下探测单元,置于连接件下方,可沿连接件轴线方向移动,用于探测连接件外壁下部质量缺陷信息,所述上探测单元和所述下探测单元分别借助于所述旋转机构的旋转可探测连接件周向外壁质量缺陷信息,所述上探测单元和所述下探测单元的轴向移动可探测连接件轴向外壁质量缺陷信息;

所述上探测单元包括:

弧形罩,上端面用于连接位于连接件上方的固定物上,所述弧形罩的弧度与连接件的外圆弧弧度相匹配,所述弧形罩的高度可调,所述弧形罩可沿连接件轴向移动;以及

第一探测器,为多个,分别均匀固设于所述弧形罩下端面,多个所述第一探测器分别借助于连接件的旋转用于探测连接件上部质量缺陷信息;第一探测器对连接件的探测角度是可以调节;

所述下探测单元包括:

滑撑,下端面用于连接位于连接件下方的固定物上,所述滑撑的高度可调,所述滑撑可沿连接件轴向移动;以及

第二探测器,为多个,分别均匀固设于所述滑撑上端面,多个所述第二探测器分别借助于连接件的旋转用于探测连接件下部质量缺陷信息,连接件在由多个所述第一探测器和多个所述第二探测器围成的圆形区域内,多个所述第一探测器和多个所述第二探测器均沿连接件轴向探测,在弧形罩上端和滑撑下端均横向设有第一电动推杆,可实现弧形罩和滑撑在水平方向上位置的调节,便于在连接件轴向上进行探测;在第一电动推杆远离推顶端的一端竖向设置第二电动推杆,所述第二电动推杆可以在竖向上调节对连接件的径向探测距离。

2.如权利要求1所述的法兰连接件视觉检测及中心孔打孔装置,其特征在于,所述第一控制机构包括:

接收单元,用于接收所述探测机构的探测信息;

控制单元,与所述接收单元的信号输出端连接,用于接收探测连接件的缺陷信息和控制连接件的旋转角度;以及

显示单元,与所述控制单元连接,用于显示连接件的质量缺陷信息。

3.如权利要求1所述的法兰连接件视觉检测及中心孔打孔装置,其特征在于,所述夹持机构包括:

框架,设于所述底座上,所述框架的高度可调;

第一夹持件,设于所述框架内,所述第一夹持件的高度借助于所述框架调节,所述第一夹持件可沿所述底座的长度方向滑动、也可沿所述底座的宽度方向滑动,所述第一夹持件上用于放置连接件,连接件的高度和水平位置借助于所述第一夹持件调节并可与所述打孔机构对齐;以及

第二夹持件,设于所述框架内且位于所述第一夹持件的上方,所述第二夹持件可沿所述底座的竖直方向推顶连接件,连接件借助于所述第一夹持件和所述第二夹持件的对夹而限位。

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