[发明专利]质谱数据的反卷积在审
申请号: | 202010465120.4 | 申请日: | 2020-05-27 |
公开(公告)号: | CN112017734A | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | R·马雷克;F·伯格;K·弗里策迈耶 | 申请(专利权)人: | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
主分类号: | G16C20/30 | 分类号: | G16C20/30;G01N27/62 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈洁;周全 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 卷积 | ||
1.一种用于对所测量的质谱数据进行反卷积的方法,所述方法包含:
接收表示各自具有相应同位素模式的至少两个分子部分的所测量的质谱数据,其中所述同位素模式中的至少两个重叠;
迭代填充一组质量通道以产生所述质谱数据的近似版本,所述迭代填充包含多个迭代,每一迭代包含根据选用于所述迭代的两个或更多个分子部分中的相应一个的所述同位素模式,用强度数据块填充所述质量通道中的一个或多个;
当满足指示所述质谱数据的所述近似版本符合所述所测量的质谱数据的适合性标准时,终止所述迭代填充;并且
根据所述分子部分的所述相应同位素模式,基于总填充量确定产生所述所测量的质谱数据的每个分子部分的量。
2.根据权利要求1所述的方法,其中对于每一迭代,所述强度数据块包含各自对应于相应质量通道的强度组,其中根据所述强度数据的所述同位素模式按比例调整所述强度组。
3.根据权利要求1所述的方法,其中对于每一迭代,所述强度数据块是相应质量通道的强度,其中根据基于所述强度数据的所述同位素模式的概率分布选择所述相应质量通道。
4.根据任一前述权利要求所述的方法,其中基于在所述迭代处的所述所测量的质谱数据与所述质谱数据的所述近似版本之间的偏差的量度来选择选用于每一迭代的所述分子部分。
5.根据任一前述权利要求所述的方法,其中在每一迭代处,选择具有对应于所述质量通道的质量的所述分子部分,所述质量通道在所述质谱数据的所述近似版本与所述所测量的质谱数据之间具有最大强度差异。
6.根据任一前述权利要求所述的方法,其进一步包含如果填充导致所述质谱数据的所述近似版本的质量通道的强度高于所述所测量的质谱数据的质量通道的强度超过限定容差,那么拒绝填充。
7.根据任一前述权利要求所述的方法,其中所述适合性标准由以下中的任一个满足:
(i)当拒绝填充所有质量通道时;
(ii)当由所述同位素数据块贡献的总强度等于所述所测量的质谱数据或光谱中所有质量通道的强度的总和时;
(iii)当质量通道在所述质谱数据的近似版本与等于或大于最小块大小的所述所测量的质谱数据之间不具有差异时;
(iv)当所述质谱数据的近似版本的所有质量通道的强度与所述所测量的质谱数据相比在预限定最大容差内时。
8.根据任一前述权利要求所述的方法,其中取决于所述方法的期望精确度选择每一块的大小。
9.根据任一前述权利要求所述的方法,其中所述每一块的大小为所述所测量的质谱数据中最强的测量峰Mp的0.1%到1%。
10.根据任一前述权利要求所述的方法,其中当所述质谱数据的所述近似版本接近所述所测量的质谱数据时,每一迭代处的所述同位素数据块的大小减小。
11.根据权利要求7所述的方法,其中所述所测量的质谱数据的噪声水平用于测定所述适合性标准中使用的所述限定容差。
12.根据任一前述权利要求所述的方法,其中在用同位素数据块迭代填充所述质量通道之前,用所述所测量的质谱数据的已知背景强度预填充质量通道所述质谱数据的近似版本。
13.根据任一前述权利要求所述的方法,其中所述分子部分为质量标签或源于质量标签的片段。
14.根据权利要求13所述的方法,其中所述分子部分为串联质量标签或源于串联质量标签的片段,任选地其中所述分子部分为串联质量标签的质量报告子部分。
15.一种存储在计算机可读介质上的计算机程序,当由一个或多个处理器执行时,所述计算机程序使得所述一个或多个处理器执行根据任一前述权利要求所述的方法。
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