[发明专利]电容器的剩余使用寿命的估计

权利要求书

1.一种用于确定表示电容器(206)的剩余使用寿命RUL的值的方法，所述方法包括以下操作：

-重复多次迭代1至k，k是大于1的整数：

获取(301)表示当前迭代中电容器的环境的环境测量；

-基于在当前迭代之前的先前迭代1至k-1中获取的先前环境测量和基于在迭代k中接收的环境测量来计算(307)至少一个老化模型；

-基于至少一个计算的老化模型来确定(308-311)表示电容器的RUL的值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述环境测量包括：

-电容器(206)附近的温度测量；

-表示电容器的端子处的电压的值的电压测量；和/或

-表示流经电容器的电流的值的电流测量。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，对于每次迭代，基于所测量的、电容器附近的环境温度来确定电容器的核心温度，并且其中，基于核心温度、基于电流值和/或基于电压值来确定老化模型。

4.根据前述权利要求之一所述的方法，包括：对于每次迭代i，估计(304)等效串联电阻ESR_i值和/或电容C_i值，i被包括在1和k之间，其中，至少一个老化模型表示迭代1至k的电容器(206)的ESR值的演变和/或迭代1至k的电容器(206)的C值的演变。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，第一老化模型表示迭代1至k的电容器(206)的ESR值的演变，并且第二老化模型表示迭代1至k的电容器(206)的C值的演变。

6.根据权利要求2或3以及权利要求4或5所述的方法，其中，通过对电容器的端子处的电压的值和流经电容器的电流的值进行滤波(302)来获得ESR值和/或C值。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，通过在低频应用(302)带通滤波器而获得C值，和/或通过在中频应用(302)带通滤波器而获得ESR值。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述低频包括120Hz，并且其中，所述中频包括15kHz；或者

其中，所述低频包括300Hz，并且其中，所述中频包括4kHz。

9.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，所述老化模型包括每次迭代的至少一个阻抗值和时间，所述阻抗值基于电流值和电压值来确定，并且其中，对于每次迭代i，基于对应于迭代i的温度值和基于参考条件来调节所述阻抗值。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述温度值是电容器(206)的核心温度T_c,i，对于每次迭代i，基于表示电容器附近的环境温度的温度测量T_amb,i来计算核心温度T_c,i。

11.根据权利要求10所述的方法，其中：

其中，I_RMS,i是迭代i的流经电容器(206)的电流的均方根值；

R_th是电容器的热阻；以及

ESR_i是迭代i的电容器的等效串联电阻值。

12.根据权利要求10或11以及权利要求4所述的方法，其中，对于每次迭代i，所述阻抗值包括ESR_i值和/或C_i值，并且其中，根据核心温度T_c,i来调节ESR_i值和/或C_i值，以基于以下等式来确定调节的值ESR_i,adjusted和/或C_i,adjusted：

其中，β₁、β₂、β₃、β₄和β₅是常数。