[发明专利]放射性活度测量装置以及测量方法

权利要求书

1.一种放射性活度测量装置（100），包括：

储样部（10），提供样品存储空间；

探测部（30），对待测样品进行活度测量；

换样部（20），设置于所述储样部（10）上方，执行将所述待测样品移动至所述探测部（30），以及将测量完成的样品移动至所述储样部（10）；

以及，

控制部，与所述储样部（10）、所述换样部（20）以及所述探测部（30）电连接，控制换样和测量；

其中，

所述换样部（20）包括第一移动件（201），用于带动样品可移动地往返于所述探测部（30）与所述储样部（10）之间；

所述第一移动件（201）包括：第一移动部（2011）、第二移动部（2012）以及第三移动部（2013）；

所述第一移动部、所述第二移动部以及所述第三移动部三者的延伸方向两两呈预定角度；

所述第一移动部（2011）设置抓取部（2010），用于抓取样品，所述抓取部（2010）能够在呈预定角度的三个方向上移动，从而具有三个自由度，所述抓取部沿所述第一移动部、所述第二移动部以及所述第三移动部延伸方向移动；

所述探测部（30）设置第二移动件（301），用于将所述待测样品移动至测量位置；

所述放射性活度测量装置（100）还包括：

手动触摸屏（70），所述手动触摸屏（70）用于实现手动调试功能；

样品盒，所述样品盒具有包容标准源的容纳空间，所述样品盒内部底部设有凹槽，所述凹槽用于放置探测片。

2.根据权利要求1所述的装置（100），其中，

所述探测部（30）包括：铅室（302）和探测器（303）；

所述探测器（303）设置在所述铅室（302）内；

所述第二移动件（301）设置在所述铅室（302）内，并且位于所述探测器（303）上方。

3.根据权利要求2所述的装置（100），其中，

所述第二移动件（301）沿所述铅室的轴向延伸，其设置座体（3011），所述座体（3011）用于容纳待测样品并带动所述待测样品移动。

4.根据权利要求3所述的装置（100），其中，

所述铅室（302）顶部设有开口（3021），用于所述抓取部（2010）带动所述样品进出所述铅室（302）。

5.根据权利要求4所述的装置（100），其中，

所述探测器（303）为高纯锗探测器；

所述探测部还设置液氮冷却装置（3031），用于为所述探测器提供工作温度。

6.根据权利要求1-5任一项所述的装置（100），其中，

所述控制部包括：PLC控制器和处理单元；

所述处理单元用于设置并发送参数；

所述控制器根据所述参数控制所述换样部以及所述探测部工作。

7.一种利用权利要求1-6任一项所述的装置进行放射性活度测量的方法，所述方法包括：

将待测样品移动至探测部；

将所述待测样品继续移动至第一位置；

判断所述第一位置是否为测量位置；

若所述第一位置是测量位置，

在所述测量位置，对所述待测样品进行测量；

若所述第一位置不是测量位置，

将所述待测样品继续移动至下一位置，并判断所述下一位置是否为测量位置，直至将所述待测样品移动至测量位置；

将测量完成的样品移动至储样部，并控制下一个待测样品移动并完成测量。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，

所述测量方法还包括：

预先设置测量参数；

所述参数包括：

样品位置参数，使换样部根据所述样品位置参数依次抓取样品；

判断参数，根据所述判断参数确定所述待测样品的测量位置。