[发明专利]一种测量非导电材质涂装膜厚度的方法在审
| 申请号： | 202010471238.8 | 申请日： | 2015-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN111412847A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王寒骁;沈峰 | 申请（专利权）人： | 江苏新思达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 苏州市小巨人知识产权代理事务所(普通合伙) 32415 | 代理人： | 胡亚兰 |
| 地址： | 215500 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 导电 材质 涂装膜 厚度 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量非导电材质涂装膜厚度的方法，其特征在于，对涂装膜本身无破坏性；包括下述步骤：
(1)分别制作目标厚度范围内的多阶段涂装膜产品；
(2)采用断层切割电子显微镜方式进行膜厚的测定；
(3)将连接有高频天线发射头的高周波发生装置固定，于天线发射头处放置未涂装的素材产品，确定波形的最低点，将多阶段涂装膜产品分别置于天线发射头处并标识波形最低点，确定目标厚度范围内的膜厚极限值，取空白波形的非波谷任意点，加上膜厚的极限值的波谷点连成直线，作为测定报警线，将涂装后的产品置于天线发射头处进行测试，在报警线范围内即为合格，超过报警线范围则为不合格；所述的多阶段涂装膜产品的目标厚度范围为0.5～2.0um。
2.根据权利要求1所述的测量非导电材质涂装膜厚度的方法，其特征在于，非导电材质采用玻璃非导电材质。
3.根据权利要求1所述的测量非导电材质涂装膜厚度的方法，其特征在于，所述涂装方式采用含Al粉的金属涂装。
4.根据权利要求1所述的测量非导电材质涂装膜厚度的方法，其特征在于，所述高周波发生装置采用安捷伦或安立。
5.根据权利要求1所述的测量非导电材质涂装膜厚度的方法，其特征在于，膜厚测量的精度可以达到0.1um的等级。
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